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垂直结构有机薄膜晶体管的制备与气敏特性分析

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-17页
    1.1 课题的背景及意义第10页
    1.2 有机薄膜晶体管的发展和现状第10-12页
    1.3 有机半导体材料第12-14页
    1.4 薄膜传感器的概述第14-16页
    1.5 本论文的主要工作第16-17页
第2章 有机气敏晶体管基本理论第17-24页
    2.1 金属-半导体间接触理论第17-21页
        2.1.1 肖特基接触第17-19页
        2.1.2 欧姆接触第19-21页
    2.2 气敏器件的气敏机理及影响因素第21-23页
        2.2.1 酞菁的气敏特性机理第21-22页
        2.2.2 影响气敏特性的因素第22-23页
    2.3 本章小结第23-24页
第3章 垂直结构有机薄膜晶体管的制备第24-33页
    3.1 器件制备工艺第25-28页
        3.1.1 真空蒸发镀膜第25-26页
        3.1.2 溅射镀膜第26-28页
    3.2 垂直结构有机薄膜晶体管制备流程第28-32页
        3.2.1 基片处理第29页
        3.2.2 基极、集电极、发射极的制备第29-30页
        3.2.3 有机层的制备第30-32页
    3.3 本章小结第32-33页
第4章 垂直结构有机薄膜晶体管的气敏特性测试与结构分析第33-44页
    4.1 敏感特性测试第33-34页
        4.1.1 测试系统第33页
        4.1.2 实验方法第33-34页
    4.2 实验测试结果第34-39页
        4.2.1 Al/CuPc/Cu肖特基二极管特性第34-36页
        4.2.2 CuPc薄膜气敏特性分析第36-37页
        4.2.3 器件能带变化分析第37-39页
    4.3 有机薄膜三极管的Ⅰ-Ⅴ特性测试分析第39-43页
    4.4 本章小结第43-44页
结论第44-45页
参考文献第45-49页
攻读学位期间发表的学术论文第49-50页
致谢第50页

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