| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 选题背景和研究意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 选题背景 | 第11-12页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第15页 |
| 1.3 本文主要研究工作和内容安排 | 第15-18页 |
| 1.3.1 主要研究工作 | 第15-16页 |
| 1.3.2 本文内容安排 | 第16-18页 |
| 第二章 带电粒子探测理论基础 | 第18-30页 |
| 2.1 带电粒子探测原理 | 第18-24页 |
| 2.1.1 带电粒子作用机制 | 第18-19页 |
| 2.1.2 重带电粒子与物质的相互作用 | 第19-22页 |
| 2.1.3 电子与物质的相互作用 | 第22-24页 |
| 2.2 半导体探测器 | 第24-29页 |
| 2.2.1 半导体探测器的工作原理 | 第24-25页 |
| 2.2.2 全耗尽探测器 | 第25-26页 |
| 2.2.3 半导体探测器的工作特性 | 第26-27页 |
| 2.2.4 在带电粒子鉴别中的应用 | 第27-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 带电粒子鉴别方法 | 第30-42页 |
| 3.1 传统的带电粒子鉴别方法 | 第30-32页 |
| 3.1.1 探测器望远镜法 | 第30-31页 |
| 3.1.2 飞行时间法 | 第31-32页 |
| 3.1.3 能量-射程关系法 | 第32页 |
| 3.2 脉冲波形分析法鉴别原理 | 第32-35页 |
| 3.3 常见的几种脉冲波形分析法 | 第35-40页 |
| 3.3.1 基于模拟技术的方法 | 第35-38页 |
| 3.3.2 基于数字技术的方法 | 第38-40页 |
| 3.4 脉冲波形分析的频域方法 | 第40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 基于频域分析的带电粒子鉴别方法的提出与实现 | 第42-69页 |
| 4.1 实验装置 | 第42-51页 |
| 4.1.1 辐射源 | 第44-47页 |
| 4.1.2 前置放大器 | 第47-48页 |
| 4.1.3 数据采集卡 | 第48-50页 |
| 4.1.4 其它设备及工具 | 第50-51页 |
| 4.2 粒子信号的处理 | 第51-57页 |
| 4.2.1 数据剔除与去基线 | 第51-53页 |
| 4.2.2 截取脉冲与归一化 | 第53-55页 |
| 4.2.3 能量刻度 | 第55-57页 |
| 4.3 FRA方法的提出与实现 | 第57-63页 |
| 4.3.1 FRA新方法的提出 | 第57-58页 |
| 4.3.2 鉴别效果 | 第58-61页 |
| 4.3.3 FRA法与其它方法的比较 | 第61-63页 |
| 4.4 其它频域方法的验证与分析 | 第63-68页 |
| 4.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 结束 语 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第75页 |