| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究综述 | 第9-11页 |
| 1.2.1 近场雷达RCS成像研究概述 | 第9-10页 |
| 1.2.2 基于压缩感知的雷达成像方法研究概述 | 第10-11页 |
| 1.3 论文研究内容及章节安排 | 第11-12页 |
| 2 雷达成像理论基础 | 第12-19页 |
| 2.1 合成孔径技术原理 | 第12-14页 |
| 2.1.1 合成孔径技术与传统雷达技术区别 | 第12-13页 |
| 2.1.2 方位向分辨率 | 第13-14页 |
| 2.1.3 距离向分辨率 | 第14页 |
| 2.2 雷达散射截面成像理论 | 第14-17页 |
| 2.2.1 雷达散射截面定义 | 第14-15页 |
| 2.2.2 RCS成像实质 | 第15-16页 |
| 2.2.3 目标散射中心分类 | 第16-17页 |
| 2.3 宽带高距离分辨率雷达技术 | 第17-18页 |
| 2.3.1 传统宽带高距离分辨率雷达技术 | 第17页 |
| 2.3.2 步进频率脉冲信号 | 第17-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 基于波数域的近程雷达成像方法 | 第19-38页 |
| 3.1 步进频率信号模型 | 第20-21页 |
| 3.2 基于逆傅里叶变换的一维距离成像算法 | 第21-23页 |
| 3.2.1 近程一维距离成像分析 | 第21页 |
| 3.2.2 近程一维距离成像仿真及提高显示分辨率方法研究 | 第21-23页 |
| 3.3 近程二维冠状面成像算法 | 第23-27页 |
| 3.3.1 近程二维冠状面成像分析 | 第23-25页 |
| 3.3.2 近程二维冠状面成像仿真及实测数据成像 | 第25-27页 |
| 3.4 近程二维横断面成像算法 | 第27-33页 |
| 3.4.1 近程二维横断面成像分析 | 第27-29页 |
| 3.4.2 Stolt插值原理及方法 | 第29-31页 |
| 3.4.3 近程二维横断面成像仿真及实测数据成像 | 第31-33页 |
| 3.5 近程三维成像算法 | 第33-36页 |
| 3.5.1 近程三维成像算法分析 | 第33-35页 |
| 3.5.2 近程三维成像仿真及实测数据成像 | 第35-36页 |
| 3.6 本章小结 | 第36-38页 |
| 4 基于非标准傅里叶变换的近程雷达成像方法 | 第38-48页 |
| 4.1 NUFFT概述 | 第38-42页 |
| 4.1.1 非标准离散傅里叶变换问题由来 | 第38-39页 |
| 4.1.2 通用NUFFT算法推导 | 第39-41页 |
| 4.1.3 NUFFT窗函数选择 | 第41-42页 |
| 4.2 基于NUFFT的改进近程二维横断面及三维成像算法 | 第42-45页 |
| 4.2.1 基于NUFFT近程二维横断面及三维成像分析 | 第42-43页 |
| 4.2.2 基于NUFFT近程二维横断面及三维成像仿真 | 第43-44页 |
| 4.2.3 基于NUFFT近程二维横断面及三维实测数据成像 | 第44-45页 |
| 4.3 改进的NUFFT算法与Sto1t插值算法性能比较 | 第45-47页 |
| 4.3.1 NUFFT算法与Stolt插值算法速度性能对比 | 第45-46页 |
| 4.3.2 NUFFT算法与Stolt插值算法成像精度对比 | 第46-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 5 基于压缩感知的稀疏场景近程雷达成像方法 | 第48-62页 |
| 5.1 压缩感知技术特点 | 第48-49页 |
| 5.2 压缩感知理论基础 | 第49-53页 |
| 5.2.1 信号稀疏性定义 | 第49-50页 |
| 5.2.2 压缩感知可行性分析 | 第50-51页 |
| 5.2.3 信号可重构条件 | 第51页 |
| 5.2.4 压缩感知方法选择 | 第51-53页 |
| 5.3 压缩感知随机频率近程成像技术 | 第53-61页 |
| 5.3.1 离散频率信号观测模型 | 第53-55页 |
| 5.3.2 压缩感知随机频率近程成像方案 | 第55-56页 |
| 5.3.3 压缩感知目标重构算法 | 第56-57页 |
| 5.3.4 压缩感知随机频率仿真 | 第57-60页 |
| 5.3.5 两种随机频率降采样方式性能评估 | 第60-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 6 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 总结 | 第62页 |
| 6.2 展望 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
