摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
目录 | 第6-9页 |
CONTENTS | 第9-12页 |
第一章 绪论 | 第12-17页 |
1.1 课题的研究背景与意义 | 第12-13页 |
1.2 无功补偿技术的发展及现状 | 第13-15页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
第二章 TSC无功补偿原理及关键技术概况 | 第17-29页 |
2.1 无功补偿基本原理 | 第17-19页 |
2.2 TSC的基本原理 | 第19-20页 |
2.3 TSC主接线方式 | 第20-22页 |
2.4 TSC的晶闸管阀和触发电路 | 第22-23页 |
2.4.1 晶闸管阀 | 第22页 |
2.4.2 C晶闸管触发电路 | 第22-23页 |
2.5 TSC控制物理量测量和控制策略 | 第23-26页 |
2.5.1 TSC控制物理量测量 | 第23-25页 |
2.5.2 TSC控制策略 | 第25-26页 |
2.6 TSC串联电抗器 | 第26-29页 |
第三章 TSC投切时刻数学模型建立与推导 | 第29-61页 |
3.1 TSC模型与分析(单相或者分补) | 第29-32页 |
3.2 品质因数(Q值)及负载对冲击电流的影响 | 第32-35页 |
3.3 三相TSC投入过程分析 | 第35-39页 |
3.3.1 C相先投入过程分析 | 第36-38页 |
3.3.2 A相先投入过程分析 | 第38-39页 |
3.4 三相TSC切除过程分析 | 第39-45页 |
3.4.1 先切除C相过程分析 | 第40-43页 |
3.4.2 先切除A相过程分析 | 第43-45页 |
3.5 TSC快速重复投切晶闸管闭锁问题分析 | 第45-52页 |
3.5.1 先切除C再投入过程分析 | 第46-49页 |
3.5.2 先切除A再投入过程分析 | 第49-52页 |
3.6 晶闸管闭锁仿真验证 | 第52-60页 |
3.7 本章小节 | 第60-61页 |
第四章 TSC硬件电路设计 | 第61-81页 |
4.1 TSC控制系统总体设计 | 第61-63页 |
4.2 控制器系统设计 | 第63-76页 |
4.2.1 基于ADuC7026和单片机的控制器系统 | 第65-68页 |
4.2.2 数据采集电路设计 | 第68-69页 |
4.2.3 改进后的数据采集电路 | 第69-70页 |
4.2.4 采集电路的可靠性分析 | 第70-72页 |
4.2.5 电压同步信号电路 | 第72页 |
4.2.6 外扩EPROM电路设计 | 第72-73页 |
4.2.7 串行通信电路 | 第73-74页 |
4.2.8 系统时钟电路 | 第74-75页 |
4.2.9 显示以及键盘电路 | 第75-76页 |
4.3 调节器设计 | 第76-79页 |
4.3.1 过量触发电路 | 第76-77页 |
4.3.2 晶闸管驱动电路 | 第77-79页 |
4.3.3 温度控制驱动电路 | 第79页 |
4.4 本章小结 | 第79-81页 |
第五章 TSC无功补偿装置的软件设计 | 第81-92页 |
5.1 软件设计的总体框架图 | 第81-82页 |
5.2 控制器程序设计 | 第82-90页 |
5.2.1 中断服务程序设计 | 第83-86页 |
5.2.2 数据处理子程序设计 | 第86-88页 |
5.2.3 投切子程序设计 | 第88-89页 |
5.2.4 通信子程序设计 | 第89-90页 |
5.3 调节器程序设计 | 第90-91页 |
5.4 本章小结 | 第91-92页 |
第六章 TSC投切实验与分析 | 第92-106页 |
6.1 电压同步信号验证 | 第92-93页 |
6.2 电压抬升信号验证 | 第93页 |
6.3 过零信号验证 | 第93-95页 |
6.4 分相补偿验证 | 第95-98页 |
6.4.1 电容器无残压时投入 | 第95-97页 |
6.4.2 电容器有残压时投入 | 第97-98页 |
6.4.3 单相切除验证 | 第98页 |
6.5 三相电容器投入验证 | 第98-101页 |
6.6 TSC快速重复投切晶闸管闭锁问题验证 | 第101-105页 |
6.7 本章小结 | 第105-106页 |
结论与展望 | 第106-107页 |
参考文献 | 第107-110页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第110-112页 |
致谢 | 第112页 |