液晶面板IC区域缺陷的自动光学检测算法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究的背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的研究内容和实施路线 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第14-15页 |
| 第二章 图像采集系统的设计与实现 | 第15-26页 |
| 2.1 图像采集系统概述 | 第15-16页 |
| 2.2 微分干涉原理 | 第16-19页 |
| 2.2.1 DIC原理简述 | 第16-17页 |
| 2.2.2 微分干涉流程 | 第17-19页 |
| 2.3 工业相机 | 第19-23页 |
| 2.3.1 面阵相机 | 第19-20页 |
| 2.3.2 线阵相机 | 第20-21页 |
| 2.3.3 相机选型 | 第21-23页 |
| 2.4 光源 | 第23-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 相机的自动对焦 | 第26-38页 |
| 3.1 自动对焦原因 | 第26-27页 |
| 3.2 自动对焦的图像采集方法 | 第27-29页 |
| 3.3 自动对焦算法的研究 | 第29-33页 |
| 3.3.1 自动对焦概述 | 第29-30页 |
| 3.3.2 常见的对焦评价函数 | 第30-33页 |
| 3.4 对焦算法的测试与分析 | 第33-37页 |
| 3.4.1 对焦算法流程 | 第34页 |
| 3.4.2 对焦算法结果分析 | 第34-37页 |
| 3.5 本章小节 | 第37-38页 |
| 第四章 图像预处理 | 第38-57页 |
| 4.1 图像纠偏 | 第38-45页 |
| 4.1.1 模板匹配 | 第38-39页 |
| 4.1.2 图像二值化 | 第39-41页 |
| 4.1.3 偏转角度的计算 | 第41-45页 |
| 4.2 图像自动旋转 | 第45-51页 |
| 4.2.1 图像旋转原理 | 第45-46页 |
| 4.2.2 插值算法 | 第46-49页 |
| 4.2.3 图像旋转实现 | 第49-51页 |
| 4.3 基于递归思想的ITO自动分割算法 | 第51-56页 |
| 4.3.1 ITO自动分割算法流程 | 第52-54页 |
| 4.3.2 ITO自动分割算法测试 | 第54-56页 |
| 4.4 本章小节 | 第56-57页 |
| 第五章 缺陷检测 | 第57-67页 |
| 5.1 缺陷的类型和特征分析 | 第57-58页 |
| 5.2 缺陷检测算法流程 | 第58-60页 |
| 5.3 缺陷检测算法测试 | 第60-62页 |
| 5.4 OpenMP多核加速 | 第62-65页 |
| 5.4.1 OpenMP优点 | 第62-63页 |
| 5.4.2 OpenMP的配置和使用 | 第63-64页 |
| 5.4.3 多核加速效率分析 | 第64-65页 |
| 5.5 本章小节 | 第65-67页 |
| 第六章 总结及展望 | 第67-69页 |
| 6.1 论文总结 | 第67-68页 |
| 6.2 工作展望 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第74-75页 |
