| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 目录 | 第10-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-33页 |
| ·综述性文献 | 第14-15页 |
| ·标准化现状 | 第15-16页 |
| ·单元素分析 | 第16-20页 |
| ·砷含量测定 | 第16-17页 |
| ·锑含量测定 | 第17页 |
| ·铋含量测定 | 第17-18页 |
| ·汞含量测定 | 第18页 |
| ·硒含量测定 | 第18页 |
| ·碲含量测定 | 第18-19页 |
| ·铅含量测定 | 第19页 |
| ·锡含量测定 | 第19页 |
| ·其他元素的测定 | 第19-20页 |
| ·多元素分析 | 第20-22页 |
| ·多元素连续分析 | 第20-21页 |
| ·多元素同时分析 | 第21-22页 |
| ·形态分析 | 第22-24页 |
| ·砷形态分析 | 第22-23页 |
| ·锑形态分析 | 第23页 |
| ·汞形态分析 | 第23页 |
| ·硒形态分析 | 第23-24页 |
| ·蒸气发生-原子荧光光谱分析技术介绍 | 第24-31页 |
| ·蒸气发生-原子荧光光谱分析技术基本原理 | 第25-26页 |
| ·蒸气发生-原子荧光光谱分析技术的特点 | 第26-27页 |
| ·氢化物发生方法 | 第27-30页 |
| ·硼氢化钾(钠)—酸还原体系 | 第30-31页 |
| ·国内外研究现状 | 第31-32页 |
| ·课题意义及创新 | 第32-33页 |
| ·课题意义 | 第32页 |
| ·创新性 | 第32-33页 |
| 第二章 氢化物发生-原子荧光光谱法测定氟石中锑的方法研究 | 第33-56页 |
| ·实验部分 | 第33-39页 |
| ·仪器及工作条件 | 第33-35页 |
| ·实验原理 | 第35页 |
| ·标准溶液和主要试剂 | 第35-36页 |
| ·样品前处理实验方法 | 第36-37页 |
| ·HG-AFS测量前处理方法 | 第36-37页 |
| ·ICP-MS测量前处理方法 | 第37页 |
| ·共存离子的干扰实验方法 | 第37-38页 |
| ·氟离子的干扰 | 第37页 |
| ·钙离子的干扰 | 第37页 |
| ·铁离子的干扰 | 第37-38页 |
| ·锰离子的干扰 | 第38页 |
| ·样品测定 | 第38页 |
| ·方法评价 | 第38-39页 |
| ·结果与讨论 | 第39-55页 |
| ·原子荧光光谱仪仪器条件的确定 | 第39-43页 |
| ·荧光强度与负高压的关系 | 第39-40页 |
| ·荧光强度与灯电流的关系 | 第40-41页 |
| ·荧光强度与载气流量的关系 | 第41页 |
| ·荧光强度与屏蔽气流量的关系 | 第41-42页 |
| ·荧光强度与原子化器高度的关系 | 第42-43页 |
| ·样品处理条件的确定 | 第43-49页 |
| ·溶解样品方法的影响 | 第43-44页 |
| ·介质酸度的影响 | 第44-46页 |
| ·预还原剂的选择及用量的影响 | 第46-48页 |
| ·KBH_4浓度的影响 | 第48-49页 |
| ·共存离子的干扰及消除 | 第49-53页 |
| ·氟对锑测定的干扰 | 第49-51页 |
| ·其他共存元素对锑测定的干扰 | 第51-53页 |
| ·检测方法评价 | 第53-55页 |
| ·线性同归方程 | 第53页 |
| ·方法的检出限、测定下限 | 第53-54页 |
| ·方法的精密度 | 第54-55页 |
| ·方法的准确度 | 第55页 |
| ·结语 | 第55-56页 |
| 第三章 高氟体系中锑的原子荧光光谱形态分析研究 | 第56-75页 |
| ·实验部分 | 第56-59页 |
| ·仪器及工作条件 | 第56-57页 |
| ·标准溶液和主要试剂 | 第57-58页 |
| ·掩蔽抗干扰剂选择的实验方法 | 第58页 |
| ·样品前处理的实验方法 | 第58页 |
| ·样品测定 | 第58-59页 |
| ·方法评价 | 第59页 |
| ·结果与讨论 | 第59-74页 |
| ·酸度及氟离子对锑荧光强度的影响 | 第59-61页 |
| ·掩蔽抗干扰剂的选择 | 第61-68页 |
| ·络合剂浓度对锑荧光强度的影响 | 第68-69页 |
| ·氟石样品中Sb(Ⅲ)提取实验条件的确定 | 第69-72页 |
| ·提取剂盐酸浓度的选择 | 第69-70页 |
| ·提取时间的选择 | 第70-71页 |
| ·提取温度的选择 | 第71-72页 |
| ·检测方法评价 | 第72-74页 |
| ·线性回归方程 | 第72-73页 |
| ·方法的检出限、测定下限 | 第73-74页 |
| ·方法的准确度 | 第74页 |
| ·结语 | 第74-75页 |
| 第四章 氢化物发生-原子荧光光谱法测定磷矿石中锑的方法研究 | 第75-90页 |
| ·实验部分 | 第75-79页 |
| ·仪器及工作条件 | 第75-76页 |
| ·标准溶液和主要试剂 | 第76-77页 |
| ·样品前处理实验方法 | 第77-78页 |
| ·HG-AFS法测量样品的前处理方法 | 第77-78页 |
| ·ICP-MS法测量样品的前处理方法 | 第78页 |
| ·共存离子的干扰实验方法 | 第78-79页 |
| ·PO_4~(3-)的干扰 | 第78页 |
| ·Ca~(2+)的干扰 | 第78页 |
| ·Mg~(2+),Fe~(3+),Al~(3+),Ti(Ⅳ),K~+,Na~+等的干扰 | 第78-79页 |
| ·样品测定 | 第79页 |
| ·检测方法的评价 | 第79页 |
| ·结果与讨论 | 第79-89页 |
| ·样品前处理实验条件的确定 | 第79-86页 |
| ·溶样酸介质初选 | 第79-80页 |
| ·溶样酸及赶酸方式的确定 | 第80-81页 |
| ·溶样温度及时间的影响 | 第81-83页 |
| ·介质酸度的影响 | 第83-84页 |
| ·KBH_4浓度的影响 | 第84-85页 |
| ·预还原剂的用量及反应时间的影响 | 第85-86页 |
| ·共存离子的干扰及消除 | 第86-87页 |
| ·检测方法评价 | 第87-89页 |
| ·线性回归方程 | 第87-88页 |
| ·方法的检出限、测定下限 | 第88页 |
| ·方法的精密度 | 第88-89页 |
| ·方法的准确度 | 第89页 |
| ·结语 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-102页 |
| 攻读学位期间的研究成果目录 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103页 |