摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
第一章 绪论 | 第12-21页 |
·引言 | 第12-20页 |
·片式氧传感器 | 第12-13页 |
·NOX传感器 | 第13-15页 |
·陶瓷连接界面基础 | 第15-16页 |
·陶瓷坯体连接 | 第16-17页 |
·陶瓷烧结体连接 | 第17-18页 |
·氧传感器中陶瓷的连接 | 第18-20页 |
·研究目标及意义 | 第20-21页 |
第二章 测试方法 | 第21-26页 |
·X射线衍射物相分析(XRD) | 第21页 |
·扫描电子显微镜分析(SEM) | 第21-22页 |
·剪切强度测试 | 第22页 |
·浸润性测试 | 第22-23页 |
·导电性能测试 | 第23-26页 |
第三章 氧化锆陶瓷的低温连接 | 第26-43页 |
·引言 | 第26页 |
·实验仪器及药品 | 第26-27页 |
·样品制备 | 第27-31页 |
·LAS玻璃连接 | 第27-28页 |
·CAS玻璃连接 | 第28-29页 |
·KAS连接 | 第29-30页 |
·BAS玻璃连接 | 第30-31页 |
·结果与讨论 | 第31-41页 |
·剪切强度测试 | 第31-32页 |
·X射线衍射 | 第32-35页 |
·浸润性测试 | 第35-37页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第37-41页 |
·本章总结 | 第41-43页 |
第四章 基于氧离子导电的LAS+ZRO_2连接系统 | 第43-64页 |
·引言 | 第43页 |
·氧化锆固体电解质导电机理 | 第43-45页 |
·实验仪器及药品 | 第45-46页 |
·样品制备 | 第46-47页 |
·LAS+ZRO_2连接系统的制备 | 第46-47页 |
·氧化错陶瓷的表面处理与连接 | 第47页 |
·结果与讨论 | 第47-62页 |
·剪切强度测试 | 第47-49页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第49-53页 |
·X射线衍射(XRD) | 第53-54页 |
·X射线能谱分析(EDS) | 第54-58页 |
·导电性能测试 | 第58-62页 |
·本章总结 | 第62-64页 |
第五章 结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
论文情况 | 第69-70页 |
发表论文 | 第69页 |
实用新型专利 | 第69-70页 |
致谢 | 第70页 |