| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·DSCM的研究进展 | 第8-9页 |
| ·相关搜索法的进展 | 第8页 |
| ·亚像素位移求法的进展 | 第8-9页 |
| ·DSCM的应用 | 第9-11页 |
| ·DSCM在力学性能测试方面的应用 | 第9-10页 |
| ·DSCM在微尺度变形场测量方面的应用 | 第10-11页 |
| ·研究背景 | 第11-12页 |
| ·本论文的主要工作 | 第12-13页 |
| 第二章 基本原理 | 第13-29页 |
| ·DSCM的基本原理 | 第13-17页 |
| ·相关运算 | 第17-20页 |
| ·模板的选取 | 第17页 |
| ·相关运算的几种数学形式 | 第17-19页 |
| ·本文选用的相关方法 | 第19-20页 |
| ·亚像素定位技术 | 第20-22页 |
| ·相关系数搜索法 | 第22-27页 |
| ·双参数法 | 第22-23页 |
| ·粗-细搜索法 | 第23页 |
| ·十字搜索法 | 第23-24页 |
| ·牛顿-拉裴逊(Newton-Raphson)迭代方法 | 第24-25页 |
| ·梯度法 | 第25-27页 |
| ·仿真图像的制作 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 DSCM 亚像素算法的比较分析 | 第29-43页 |
| ·比较分析所采用的算法 | 第29-33页 |
| ·相关系数插值法 | 第29-31页 |
| ·相关系数拟合法 | 第31-32页 |
| ·梯度法 | 第32-33页 |
| ·算法的比较 | 第33-42页 |
| ·刚体面内位移测量比较 | 第34-36页 |
| ·形变测量比较 | 第36-38页 |
| ·抗噪能力测试 | 第38-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 双显微测量系统及其应用 | 第43-63页 |
| ·基本测量原理 | 第43-44页 |
| ·系统组成 | 第44-48页 |
| ·光学成像系统 | 第44-45页 |
| ·CCD摄像机 | 第45页 |
| ·图像采集卡 | 第45-46页 |
| ·图像采集软件 | 第46页 |
| ·DSCM计算软件 | 第46-48页 |
| ·软件测试分析 | 第48-52页 |
| ·子区大小的选取 | 第48-50页 |
| ·自相关无位移实验 | 第50-51页 |
| ·刚性平移测试 | 第51-52页 |
| ·系统标定 | 第52-53页 |
| ·系统实验分析 | 第53-55页 |
| ·零漂实验 | 第53-54页 |
| ·刚体位移测试 | 第54-55页 |
| ·对比实验 | 第55-60页 |
| ·试件制作及散斑的喷涂 | 第55-56页 |
| ·实验 | 第56-60页 |
| ·误差分析 | 第60-62页 |
| ·系统误差 | 第60-61页 |
| ·随机误差 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-64页 |
| ·总结 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录 | 第69-70页 |
| 稿件录用通知 | 第70页 |