基于“龙腾R2”微处理器测试结构设计与研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·课题背景及来源 | 第7-8页 |
| ·可测试性设计技术 | 第8-15页 |
| ·可测试性设计的目标 | 第8-9页 |
| ·可测试性设计技术分类 | 第9-15页 |
| ·论文结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 "龙腾R2"测试需求 | 第17-28页 |
| ·"龙腾R2"结构 | 第17-19页 |
| ·"龙腾R2"测试要求 | 第19-24页 |
| ·"龙腾R2"测试目标 | 第19页 |
| ·芯片测试分析 | 第19-23页 |
| ·芯片测试效率 | 第23-24页 |
| ·ICD系统要求 | 第24-28页 |
| ·ICD系统介绍 | 第24-25页 |
| ·"龙腾R2"的ICD系统功能 | 第25-26页 |
| ·ICD系统需求 | 第26-28页 |
| 第三章 "龙腾R2"可测试性设计 | 第28-54页 |
| ·"龙腾R2"全扫描设计 | 第29-41页 |
| ·扫描策略 | 第30-32页 |
| ·扫描链规划 | 第32-34页 |
| ·扫描设计实现 | 第34-39页 |
| ·STIL文件 | 第39-40页 |
| ·扫描仿真验证 | 第40-41页 |
| ·"龙腾R2"BIST设计 | 第41-46页 |
| ·"龙腾R2"内存结构 | 第41页 |
| ·内存测试算法分析 | 第41-42页 |
| ·"龙腾R2"BIST实现 | 第42-44页 |
| ·MBIST仿真验证 | 第44-46页 |
| ·故障覆盖率分析 | 第46-49页 |
| ·故障覆盖率与缺陷等级 | 第46-47页 |
| ·故障模型选择 | 第47页 |
| ·"龙腾R2"故障覆盖率分析 | 第47-49页 |
| ·测试实施结果 | 第49-52页 |
| ·小结 | 第52-54页 |
| 第四章 "龙腾R2"的JTAG电路设计 | 第54-68页 |
| ·TAP介绍 | 第54-55页 |
| ·JTAG控制器实现 | 第55-61页 |
| ·全扫描对JTAG需求 | 第59页 |
| ·MBIST对JTAG需求 | 第59-60页 |
| ·JTAG电路设计 | 第60-61页 |
| ·扫描单元设计 | 第61-64页 |
| ·测试指令集设计 | 第64-66页 |
| ·必选指令 | 第64-65页 |
| ·可选指令 | 第65-66页 |
| ·对ICD系统支持 | 第66-68页 |
| ·基本JTAG指令对调试的支持 | 第66-67页 |
| ·可选JTAG指令对调试支持 | 第67-68页 |
| 第五章 结束语 | 第68-69页 |
| ·论文总结 | 第68页 |
| ·论文工作展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 硕士期间发表的论文和参加的工作 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
