| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| ·选题背景及意义 | 第12-13页 |
| ·可测试性技术 | 第13-14页 |
| ·故障珍断技术 | 第14-19页 |
| ·数字电路故障诊断技术 | 第15-16页 |
| ·模拟电路故障诊断技术 | 第16-17页 |
| ·数模混合电路故障诊断技术 | 第17-19页 |
| 第二章 基于DES理论的可测试性分析与障诊断 | 第19-27页 |
| ·运用DES理论进行建模 | 第19-22页 |
| ·在电路实例中的应用 | 第22-27页 |
| ·数字电路 | 第22-24页 |
| ·模拟电路 | 第24-26页 |
| ·数模混合电路 | 第26-27页 |
| 第三章 最小测试集的求取 | 第27-43页 |
| ·现有的几种求取电路最小测试集的方法 | 第27-31页 |
| ·移走法 | 第27页 |
| ·模拟退火算法 | 第27-29页 |
| ·GASA混合策略求耳义最小测试集 | 第29-30页 |
| ·转化为除去冗余方程的方法 | 第30-31页 |
| ·基于混沌搜索求取电路最小测试集 | 第31-36页 |
| ·函数问题的混沌优化 | 第32-33页 |
| ·组合问题的混沌优化 | 第33-34页 |
| ·混沌搜索算法 | 第34-35页 |
| ·基于混沌搜索求取最小测试集 | 第35-36页 |
| ·基于混沌遗传算法求取最小测试集 | 第36-41页 |
| ·遗传算法 | 第36-38页 |
| ·混沌遗传算法 | 第38-40页 |
| ·基于混沌遗传算法求取最小测试集 | 第40-41页 |
| ·几种优化算法的优劣比较 | 第41-43页 |
| 第四章 基于EDA技术的故障仿真分析 | 第43-48页 |
| ·EDA技术 | 第43-44页 |
| ·Multisim 2001软件 | 第43-44页 |
| ·电路实例 | 第44-48页 |
| 第五章 电路测试系统演示软件系统 | 第48-53页 |
| ·软件的模块结构 | 第48-49页 |
| ·基于DES理论的数模混合电路的可测试性实验演示系统 | 第49-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-57页 |
| ·对本文的总结 | 第53页 |
| ·对未来的展望 | 第53-57页 |
| ·对可测试性技术的展望 | 第53-55页 |
| ·对故障珍断技术的展望 | 第55-57页 |
| 参考文献： | 第57-60页 |
| 硕士期间发表论文清单 | 第60页 |