SerDes芯片设计验证及测试技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·本课题的背景及研究意义 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-10页 |
| ·本论文的主要工作及目标 | 第10-12页 |
| 第二章 高速串行接口测试技术 | 第12-30页 |
| ·SerDes 概述 | 第12-16页 |
| ·SerDes 简介 | 第12-13页 |
| ·SerDes 系统结构 | 第13-16页 |
| ·抖动 | 第16-22页 |
| ·抖动的概念 | 第16-17页 |
| ·抖动的分类 | 第17-19页 |
| ·SerDes 芯片中的抖动及测试 | 第19-22页 |
| ·误码率 | 第22-24页 |
| ·误码的产生 | 第22-23页 |
| ·误码率与抖动的关系 | 第23-24页 |
| ·眼图 | 第24-26页 |
| ·差分信号传输系统测试方案 | 第26-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 SerDes 接口芯片的可测性设计 | 第30-42页 |
| ·DFT | 第30-33页 |
| ·扫描设计技术 | 第30-32页 |
| ·内建自测试（BIST）技术 | 第32-33页 |
| ·SerDes 芯片中BIST 电路设计 | 第33-34页 |
| ·PRBS 产生电路 | 第34-38页 |
| ·伪随机序列产生原理 | 第34-36页 |
| ·PRBS 产生器设计 | 第36-38页 |
| ·PRBS 产生器电路的仿真 | 第38页 |
| ·误码率检测电路 | 第38-41页 |
| ·误码率检测电路设计 | 第38-40页 |
| ·BERT 电路仿真 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 SerDes 芯片功能仿真 | 第42-56页 |
| ·仿真工具及仿真环境设置 | 第42-44页 |
| ·SerDes 芯片分析 | 第44-47页 |
| ·理想信号下的全电路功能仿真 | 第47-52页 |
| ·BIST 模式下的功能仿真 | 第47-49页 |
| ·内环数据（indata）模式下功能仿真 | 第49-51页 |
| ·外环数据（outdata）模式下功能仿真 | 第51-52页 |
| ·抖动信号下的电路仿真 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-56页 |
| 第五章 SerDes 芯片的版图设计和测试验证 | 第56-76页 |
| ·版图设计中关键因素的考虑 | 第56-64页 |
| ·天线效应（Antenna Effect） | 第56-59页 |
| ·器件的匹配 | 第59-62页 |
| ·闩锁效应（Latch-up） | 第62-64页 |
| ·SerDes 版图设计规划 | 第64-68页 |
| ·布图规划 | 第65-66页 |
| ·电源线规划 | 第66-68页 |
| ·SerDes 版图实现 | 第68-69页 |
| ·SerDes 测试实现 | 第69-71页 |
| ·测试结果及分析 | 第71-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 结论 | 第76-78页 |
| ·全文工作总结 | 第76-77页 |
| ·未来工作展望 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第81-82页 |
