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MEMS加工中电感耦合等离子体(ICP)刻蚀硅片的模型与模拟

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第一章 序论第9-35页
   ·MEMS简介第9-11页
   ·MEMS加工技术第11-12页
     ·表面微机械加工技术第11-12页
     ·体微机械加工技术第12页
     ·LIGA技术第12页
   ·电感耦合等离子体(ICP)刻蚀技术第12-33页
     ·ICP刻蚀装置第13-15页
     ·ICP模型第15-24页
     ·刻蚀表面演化算法第24-27页
     ·等离子体刻蚀硅片的机理与模型第27-32页
     ·可用于等离子体刻蚀的现有模拟工具第32-33页
   ·课题研究的背景与意义第33-34页
   ·论文的主要工作第34页
   ·本章小结第34-35页
第二章 ICP装置腔体内的气体分布模拟第35-47页
   ·气体分布模拟的现有问题与困难第35-36页
   ·DSMC的要点第36-37页
   ·模拟试验及参数设定第37-40页
     ·模拟中的假设第37-38页
     ·模拟参数的设定第38-40页
   ·模拟结果与讨论第40-46页
     ·模拟结果第40-44页
     ·与已有模拟的比较第44-46页
   ·本章小结第46-47页
第三章 ICP刻蚀中的单步反应离子刻蚀模型研究第47-63页
   ·刻蚀表面几何模型第47-51页
     ·线算法第47-48页
     ·2-D沟槽结构的刻蚀几何模型第48-51页
   ·等离子体鞘层模型第51-52页
     ·等离子体鞘层第51-52页
     ·一种简化的鞘层离子模型第52页
   ·入射离子流通量第52-54页
   ·入射中性粒子流通量第54-55页
   ·刻蚀反应第55-56页
   ·刻蚀模型的归一化数值解法第56-59页
   ·刻蚀速率的模拟结果与讨论第59-62页
   ·本章小结第62-63页
第四章 交替复合深刻蚀(ICP TMDE)的模型研究第63-81页
   ·交替复合深刻蚀第63-65页
   ·刻蚀模型第65-66页
   ·淀积模型第66-67页
   ·单一线算法对不同刻蚀材料的区分第67页
   ·几何修正及程序稳定性第67-68页
   ·Footing效应及其建模第68-70页
   ·模拟与实验结果比较第70-80页
     ·参数R的调整及其对入射离子流的影响第70-72页
     ·ICP复合深刻蚀的模拟及实验对比第72-77页
     ·Footing效应的模拟及实验对比第77-80页
   ·本章小结第80-81页
第五章 总结与展望第81-84页
致谢第84-85页
参考文献第85-91页
图表索引第91-94页
在学期间发表的论文第94页

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