微流控芯片中电渗流输运特性研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第1章 概论 | 第10-26页 |
·课题的提出及其意义 | 第10-11页 |
·微流控芯片的发展概况 | 第11-16页 |
·国外发展概况 | 第11-13页 |
·国内发展概况 | 第13-16页 |
·微流控芯片的结构特征及特点 | 第16-17页 |
·微流控芯片中电渗流特性研究现状 | 第17-24页 |
·理论分析 | 第17-19页 |
·数值模拟 | 第19-22页 |
·实验研究 | 第22-24页 |
·微流控芯片研究中存在的问题 | 第24-25页 |
·本文的研究内容 | 第25-26页 |
第2章 微流控中的动电模型及数值方法 | 第26-38页 |
·微流控中的动电现象 | 第26-27页 |
·数学模型 | 第27-33页 |
·双电层电势场 | 第27-31页 |
·外加应用电场 | 第31页 |
·电渗流场 | 第31-32页 |
·溶液浓度场 | 第32页 |
·边界条件 | 第32-33页 |
·数值模拟方法 | 第33-36页 |
·离散化方法 | 第33-34页 |
·有限元方法求解 | 第34-36页 |
·假设和近似 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第3章 微通道内电渗流数值模拟研究 | 第38-72页 |
·解析解过程及数值解确认 | 第38-42页 |
·光滑表面微通道内电渗流数值模拟 | 第42-48页 |
·溶液浓度的影响 | 第42-45页 |
·微通道高度的影响 | 第45-47页 |
·电场强度的影响 | 第47-48页 |
·矩形粗糙表面微通道内电渗流数值模拟 | 第48-53页 |
·粗糙元高度的影响 | 第49-50页 |
·粗糙元间距的影响 | 第50-53页 |
·粗糙度与双电层厚度的影响 | 第53页 |
·三角形粗糙表面微通道内电渗流数值模拟 | 第53-57页 |
·粗糙元高度的影响 | 第55页 |
·粗糙元频率的影响 | 第55-57页 |
·正弦粗糙表面微通道内电渗流数值模拟 | 第57-61页 |
·粗糙元高度的影响 | 第58-60页 |
·粗糙元频率的影响 | 第60-61页 |
·分形粗糙表面微通道内电渗流数值模拟 | 第61-65页 |
·分形维数的影响 | 第62-64页 |
·分形个数的影响 | 第64-65页 |
·疏水表面微通道内电渗流数值模拟 | 第65-70页 |
·溶液浓度的影响 | 第67-68页 |
·微通道高度的影响 | 第68-69页 |
·电场强度的影响 | 第69-70页 |
·本章小结 | 第70-72页 |
第4章 微流控芯片中电渗驱动数值模拟 | 第72-87页 |
·数值模拟结果确认 | 第72-76页 |
·光滑表面微流控芯片中电渗驱动数值模拟 | 第76-83页 |
·微通道中的样品传输 | 第78-79页 |
·交叉通道中的夹流进样 | 第79-81页 |
·样品分离的模拟 | 第81-83页 |
·粗糙表面微流控芯片内电渗驱动数值模拟 | 第83-85页 |
·本章小结 | 第85-87页 |
第5章 PMMA微流控芯片制作及实验研究 | 第87-100页 |
·芯片材料及制作方法 | 第87-88页 |
·PMMA微流控芯片制作 | 第88-90页 |
·微通道结构设计 | 第88-89页 |
·PMMA基片 | 第89页 |
·芯片储液槽加工 | 第89-90页 |
·芯片键合 | 第90页 |
·电流监测实验系统的建立 | 第90-92页 |
·电渗流的测量 | 第92-99页 |
·仪器与试剂 | 第92-93页 |
·实验过程 | 第93-95页 |
·实验结果及分析 | 第95-99页 |
·本章小结 | 第99-100页 |
第6章 总结与展望 | 第100-104页 |
·全文总结 | 第100-102页 |
·论文创新点 | 第102页 |
·工作展望 | 第102-104页 |
致谢 | 第104-105页 |
参考文献 | 第105-118页 |
附录 | 第118-120页 |
攻读学位期间的研究成果 | 第120页 |