多功能磨削试验台数控系统的研发
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-18页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·数控系统的发展及分类 | 第8-10页 |
| ·数控系统的研究现状及趋势 | 第10-14页 |
| ·国外数控技术的研究情况 | 第10-11页 |
| ·我国数控技术的发展历程 | 第11-12页 |
| ·数控技术的发展趋势 | 第12-14页 |
| ·开放式数控系统及其特点 | 第14-16页 |
| ·开放式数控系统的特征 | 第15页 |
| ·开放式数控系统的开放途径 | 第15-16页 |
| ·开放式体系结构的分类 | 第16页 |
| ·课题的研究目的及意义 | 第16页 |
| ·课题的内容 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 2 多功能磨削试验台数控系统的总体方案设计 | 第18-32页 |
| ·多功能磨削试验台开放式数控系统的硬件原理 | 第19-20页 |
| ·多功能磨削试验台开放式数控系统的硬件构成 | 第20-26页 |
| ·工业控制计算机选型 | 第21页 |
| ·PMAC简介 | 第21-25页 |
| ·PMAC主要附件双端口RAM介绍 | 第25-26页 |
| ·基于PMAC的伺服系统单元设备选型 | 第26-28页 |
| ·伺服系统的设计要求 | 第26-27页 |
| ·伺服系统的选型 | 第27-28页 |
| ·电主轴和主轴变频器 | 第28-29页 |
| ·控制面板 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 3 电路设计和电气元件选型 | 第32-40页 |
| ·电气线路设计原则 | 第32页 |
| ·电气元件的选型和布局 | 第32-34页 |
| ·接触器(KM)的选用 | 第32-33页 |
| ·继电器(KA)的选用 | 第33页 |
| ·断路器(QF)的选用 | 第33-34页 |
| ·电器元件的布局 | 第34页 |
| ·电路设计 | 第34-38页 |
| ·主电路 | 第34-35页 |
| ·控制电路设计 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 4 多功能磨削试验台数控系统软件设计 | 第40-54页 |
| ·数控系统软件简介 | 第40-43页 |
| ·概述 | 第40页 |
| ·两种数控软件结构 | 第40-41页 |
| ·操作系统在数控系统中应用的比较 | 第41-42页 |
| ·Windows平台与开放式CNC | 第42-43页 |
| ·软件开发方法 | 第43页 |
| ·多功能磨削试验台数控系统软件设计 | 第43-53页 |
| ·数控系统软件开发的内容 | 第43页 |
| ·数控系统信息流程 | 第43-44页 |
| ·系统软件总体结构 | 第44-45页 |
| ·软件功能设计 | 第45-49页 |
| ·用户界面开发 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 5 数控系统调试与试验台位置精度检测 | 第54-68页 |
| ·PID参数调节 | 第54-60页 |
| ·PID滤波器工作原理 | 第54-56页 |
| ·PID滤波器参数调节和设定 | 第56-60页 |
| ·试验台位置精度检测与误差补偿 | 第60-67页 |
| ·激光干涉仪测量原理 | 第60-61页 |
| ·RENISHAW激光干涉仪的测量误差 | 第61-62页 |
| ·直线位置精度的测量 | 第62-64页 |
| ·直线位置误差补偿及补偿后的直线位置精度测量 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 6 全文总结与展望 | 第68-70页 |
| ·全文总结 | 第68页 |
| ·工作展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第76页 |
