| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-25页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第17-19页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第19-22页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第19-20页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第20-22页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第22-23页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第23-24页 |
| 1.5 本章总结 | 第24-25页 |
| 第二章 NAND FLASH存储技术研究与控制器设计 | 第25-49页 |
| 2.1 几种存储器的分类与介绍 | 第25-28页 |
| 2.2 NAND FLASH存储结构与接口信号 | 第28-30页 |
| 2.3 NAND FLASH的工作模式 | 第30-31页 |
| 2.4 NAND FLASH的操作时序 | 第31-37页 |
| 2.4.1 复位操作 | 第32页 |
| 2.4.2 读芯片ID操作 | 第32-33页 |
| 2.4.3 设置模式与获取模式寄存器操作 | 第33-34页 |
| 2.4.4 块擦除操作 | 第34-35页 |
| 2.4.5 编程操作 | 第35页 |
| 2.4.6 页读取操作 | 第35-36页 |
| 2.4.7 读状态操作 | 第36-37页 |
| 2.4.8 其他高级操作方式 | 第37页 |
| 2.5 NAND FLASH控制器的设计 | 第37-48页 |
| 2.5.2 初始化模块的设计 | 第39页 |
| 2.5.3 同步复位模块设计 | 第39-40页 |
| 2.5.4 读芯片ID模块的设计 | 第40-41页 |
| 2.5.5 GET FEATURE模块的设计 | 第41页 |
| 2.5.6 擦除模块的设计 | 第41-42页 |
| 2.5.7 页编程模块的设计 | 第42-43页 |
| 2.5.8 页读模块的设计 | 第43-44页 |
| 2.5.9 读状态模块的设计 | 第44-45页 |
| 2.5.10 地址管理模块的设计 | 第45-46页 |
| 2.5.11 坏块管理模块的设计 | 第46-47页 |
| 2.5.12 流水线操作模块的设计 | 第47-48页 |
| 2.6 本章总结 | 第48-49页 |
| 第三章 千兆以太网图像传输的研究与设计 | 第49-63页 |
| 3.1 千兆以太网技术概述 | 第49-50页 |
| 3.2 协议参考模型介绍 | 第50-53页 |
| 3.2.1 OSI参考模型 | 第50-51页 |
| 3.2.2 TCP/IP参考模型 | 第51-53页 |
| 3.3 IP协议理论 | 第53-55页 |
| 3.3.1 IP数据报传输方式 | 第53-54页 |
| 3.3.2 IP数据报协议的标识 | 第54页 |
| 3.3.3 IP数据报的组成结构 | 第54-55页 |
| 3.4 UDP协议 | 第55-57页 |
| 3.4.1 UDP/IP协议原理 | 第55-56页 |
| 3.4.2 UDP协议 | 第56-57页 |
| 3.5 以太网传输模块设计 | 第57-61页 |
| 3.5.1 以太网图传系统结构 | 第57-58页 |
| 3.5.2 UDP发送模块的设计 | 第58-60页 |
| 3.5.3 CRC模块的设计 | 第60-61页 |
| 3.6 本章总结 | 第61-63页 |
| 第四章 系统的测试与实现 | 第63-75页 |
| 4.1 测试环境与实验平台 | 第63-64页 |
| 4.2 NAND FLASH控制器的测试 | 第64-70页 |
| 4.2.2 初始化模块测试 | 第65-66页 |
| 4.2.3 读ID模块测试 | 第66页 |
| 4.2.4 GET FEATURE模块测试 | 第66-67页 |
| 4.2.5 擦除模块测试 | 第67-68页 |
| 4.2.6 页编程模块测试 | 第68-69页 |
| 4.2.7 页读模块测试 | 第69页 |
| 4.2.8 坏块管理模块测试 | 第69-70页 |
| 4.2.9 流水线模块测试 | 第70页 |
| 4.3 千兆以太网图像传输测试 | 第70-72页 |
| 4.4 高速数据写入速率测试 | 第72-74页 |
| 4.4.1 单颗芯片测试 | 第72-73页 |
| 4.4.2 存储阵列性能测试 | 第73-74页 |
| 4.5 上位机显示验证 | 第74页 |
| 4.6 本章总结 | 第74-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 5.1 工作总结 | 第75-76页 |
| 5.2 工作展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 作者简介 | 第83-85页 |