| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-24页 |
| 1.1 课题来源及研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 拉曼光谱技术 | 第10-12页 |
| 1.2.1 表面增强拉曼光谱 | 第10页 |
| 1.2.2 局域表面等离激元共振 | 第10-12页 |
| 1.3 等离激元催化反应 | 第12-14页 |
| 1.3.1 等离激元反应的发现 | 第12-13页 |
| 1.3.2 SERS基底研究等离激元反应 | 第13-14页 |
| 1.4 复合SERS基底的SERS效应和等离激元催化研究 | 第14-22页 |
| 1.4.1 半导体复合贵金属SERS效应和等离激元催化研究 | 第14-17页 |
| 1.4.2 二维材料复合贵金属SERS效应和等离激元催化研究 | 第17-22页 |
| 1.5 主要研究内容 | 第22-24页 |
| 第2章 实验材料及实验方法 | 第24-28页 |
| 2.1 实验所用化学试剂和仪器 | 第24-25页 |
| 2.1.1 实验所用化学试剂 | 第24页 |
| 2.1.2 实验所用仪器 | 第24-25页 |
| 2.2 实验样品的制备 | 第25-26页 |
| 2.2.1 单颗粒Ag微球的制备 | 第25页 |
| 2.2.2 纳米银薄膜的制备 | 第25-26页 |
| 2.2.3 单颗粒和薄膜Ag@MoS_2的制备 | 第26页 |
| 2.3 材料的表征 | 第26-28页 |
| 2.3.1 扫描电子显微镜测试 | 第26页 |
| 2.3.2 X射线衍射分析测试 | 第26页 |
| 2.3.3 透射电子显微镜测试 | 第26页 |
| 2.3.4 X射线光电子能谱测试 | 第26-27页 |
| 2.3.5 原子力显微镜测试 | 第27页 |
| 2.3.6 拉曼光谱测试 | 第27-28页 |
| 第3章 单颗粒Ag@MoS_2基底表面增强拉曼光谱及等离激元催化研究 | 第28-54页 |
| 3.1 引言 | 第28页 |
| 3.2 单颗粒Ag@MoS_2的结构表征 | 第28-34页 |
| 3.2.1 单颗粒Ag@MoS_2的SEM分析 | 第29-30页 |
| 3.2.2 单颗粒Ag@MoS_2的XPS分析 | 第30-31页 |
| 3.2.3 单颗粒Ag@MoS_2的Raman分析 | 第31-32页 |
| 3.2.4 单颗粒Ag@MoS_2的XRD分析 | 第32页 |
| 3.2.5 单颗粒Ag@MoS_2的TEM分析 | 第32-34页 |
| 3.3 单颗粒Ag@MoS_2的SERS性能研究 | 第34-43页 |
| 3.3.1 MoS_2结晶度对R6G的SERS检测的影响 | 第34-37页 |
| 3.3.2 MoS_2厚度对R6G的SERS检测的影响 | 第37-39页 |
| 3.3.3 MoS_2结晶度和厚度对4-MPY的SERS检测的影响 | 第39-41页 |
| 3.3.4 MoS_2结晶度和厚度对4-ATP的SERS检测的影响 | 第41-43页 |
| 3.4 单颗粒Ag@MoS_2表面等离激元催化反应的研究 | 第43-53页 |
| 3.4.1 MoS_2结晶度对单颗粒Ag@MoS_2等离激元催化反应的影响 | 第43-47页 |
| 3.4.2 MoS_2厚度对单颗粒Ag@MoS_2等离激元催化反应的影响 | 第47-50页 |
| 3.4.3 激光功率对单颗粒Ag@MoS_2等离激元催化反应的影响 | 第50-53页 |
| 3.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 Ag@MoS_2薄膜基底表面增强拉曼光谱及等离激元催化研究 | 第54-65页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 Ag@MoS_2薄膜的结构表征 | 第54-58页 |
| 4.2.1 Ag@MoS_2薄膜的SEM分析 | 第54-56页 |
| 4.2.2 Ag@MoS_2薄膜的AFM分析 | 第56-58页 |
| 4.2.3 Ag@MoS_2薄膜的Raman分析 | 第58页 |
| 4.3 Ag@MoS_2薄膜的SERS性能研究 | 第58-62页 |
| 4.3.1 MoS_2结晶度和厚度对薄膜上R6G的SERS检测的影响 | 第58-60页 |
| 4.3.2 MoS_2结晶度和厚度对薄膜上4-MPY的SERS检测的影响 | 第60-62页 |
| 4.4 Ag@MoS_2薄膜表面等离激元催化反应的研究 | 第62-64页 |
| 4.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75页 |