| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-26页 |
| 1.1 课题背景及研究目的与意义 | 第9页 |
| 1.2 半导体(SC)材料选择 | 第9-24页 |
| 1.2.1 WO_3SC材料构建光阳极 | 第9-13页 |
| 1.2.2 BiVO_4SC材料构建光阳极 | 第13-15页 |
| 1.2.3 催化剂对SC材料影响 | 第15-21页 |
| 1.2.4 异质结SC材料构建光阳极 | 第21-24页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第24-26页 |
| 第2章 实验材料与测试方法 | 第26-30页 |
| 2.1 实验仪器与药品 | 第26-27页 |
| 2.1.1 实验仪器 | 第26页 |
| 2.1.2 实验药品 | 第26-27页 |
| 2.2 光电极导电基底材料 | 第27页 |
| 2.3 表征方法 | 第27-30页 |
| 2.3.1 X射线衍射测试 | 第27页 |
| 2.3.2 扫描电镜测试 | 第27-28页 |
| 2.3.3 电感耦合等离子体发射光谱仪 | 第28页 |
| 2.3.4 固体紫外-可见吸收光谱测试 | 第28页 |
| 2.3.5 光电化学性能测试 | 第28-29页 |
| 2.3.6 气相色谱测试 | 第29-30页 |
| 第3章 WO_3/BiVO_4异质结制备及性能测试 | 第30-44页 |
| 3.1 引言 | 第30-31页 |
| 3.2 WO_3薄膜的制备及其性能表征 | 第31-33页 |
| 3.2.1 导电玻璃预处理 | 第31页 |
| 3.2.2 WO_3薄膜的制备 | 第31-32页 |
| 3.2.3 WO_3薄膜层数的优化 | 第32-33页 |
| 3.3 WO_3薄膜基本性质表征 | 第33-35页 |
| 3.3.1 WO_3薄膜的SEM测试 | 第33页 |
| 3.3.2 WO_3薄膜Mott-Schottky测试 | 第33-34页 |
| 3.3.3 WO_3薄膜的固体紫外-可见吸收测试 | 第34-35页 |
| 3.4 WO_3薄膜的光电转换性能 | 第35-36页 |
| 3.5 WO_3/BiVO_4异质结的构建及其性能表征 | 第36-42页 |
| 3.5.1 BiVO_4前驱液的制备 | 第36-37页 |
| 3.5.2 BiVO_4薄膜的形貌 | 第37页 |
| 3.5.3 BiVO_4薄膜的固体紫外-可见吸收光谱测试 | 第37-38页 |
| 3.5.4 BiVO_4薄膜的Mott-Schottky测试 | 第38-39页 |
| 3.5.5 WO_3/BiVO_4异质结的制备 | 第39页 |
| 3.5.6 WO_3/BiVO_4异质结的SEM测试 | 第39-40页 |
| 3.5.7 WO_3/BiVO_4异质结的紫外-可见光谱测试 | 第40-41页 |
| 3.5.8 WO_3/BiVO_4异质结的LHE | 第41页 |
| 3.5.9 WO_3/BiVO_4异质结在亚硫酸钠溶液中LSV的测试 | 第41-42页 |
| 3.5.10 WO_3/BiVO_4异质结在磷酸缓冲液中LSV测试 | 第42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 构建p/nPEC及性能测试 | 第44-54页 |
| 4.1 引言 | 第44-45页 |
| 4.2 CoO_X修饰WO_3/BiVO_4异质结后及其表征 | 第45-46页 |
| 4.2.1 WO_3/BiVO_4光阳极表面负载CoO_x催化剂 | 第45页 |
| 4.2.2 负载CoO_x催化剂后的XRD测试 | 第45-46页 |
| 4.2.3 负载CoO_x催化剂后的ICP测试 | 第46页 |
| 4.3 WO_3/BiVO_4复合光阳极的光电化学测试 | 第46-49页 |
| 4.3.1 负载CoO_x催化剂前后在亚硫酸钠溶液液中LSV测试 | 第46-47页 |
| 4.3.2 负载CoO_x催化剂前后在磷酸缓冲液中LSV测试 | 第47-48页 |
| 4.3.3 气相色谱测试 | 第48页 |
| 4.3.4 WO_3/BiVO_4复合光阳极EIS测试 | 第48-49页 |
| 4.4 NiO/Sb_2S_3复合光阴极的制备与表征测试 | 第49-52页 |
| 4.4.1 NiO光阴极的制备 | 第49页 |
| 4.4.2 NiO/Sb_2S_3复合光阴极的制备 | 第49页 |
| 4.4.3 NiO以及NiO/Sb_2S_3复合光阴极紫外-可见吸收测试 | 第49-50页 |
| 4.4.4 NiO以及NiO/Sb_2S_3复合光阴极Mott-Schottky测试 | 第50-51页 |
| 4.4.5 NiO与NiO/Sb_2S_3薄膜的I-t测试 | 第51-52页 |
| 4.5 p/nPEC的光电化学性能表征 | 第52-53页 |
| 4.5.1 p/nPEC的I-t测试 | 第52-53页 |
| 4.6 本章小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
