摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4页 |
英语缩略语表 | 第5-9页 |
1 概论 | 第9-13页 |
1.1 RFID背景简介 | 第9页 |
1.2 RFID发展现状 | 第9-10页 |
1.3 UHF RFID主要特点 | 第10-11页 |
1.4 UHF RFID技术难点及本芯片优点 | 第11-12页 |
1.5 本文的研究内容与章节安排 | 第12-13页 |
1.5.1 本文的研究内容 | 第12页 |
1.5.2 本文的章节安排 | 第12-13页 |
2 UHF RFID芯片的总体架构 | 第13-17页 |
2.1 UHF RFID的基本原理 | 第13-14页 |
2.2 UHF RFID的总体架构 | 第14-15页 |
2.3 UHF RFID的基本参数 | 第15-16页 |
2.4 本章小结 | 第16-17页 |
3 UHF RFID芯片的模块设计 | 第17-45页 |
3.1 整流器电路的设计 | 第17-25页 |
3.1.1 整流器电路的基本结构 | 第17-18页 |
3.1.2 整流器电路设计基础:阻抗变换 | 第18-19页 |
3.1.3 芯片输入阻抗的估算方法 | 第19-20页 |
3.1.4 整流器结构以及芯片参数对输入阻抗的影响 | 第20-21页 |
3.1.5 芯片仿真模型以及节点信号估计 | 第21-22页 |
3.1.6 整流器设计中的器件选型 | 第22-25页 |
3.1.7 整流器的实际电路 | 第25页 |
3.2 反射调制电路的设计 | 第25-26页 |
3.3 参考源电路的设计 | 第26-32页 |
3.3.1 PTAT+BJT结构带隙基准电路 | 第26-27页 |
3.3.2 Banba结构带隙基准电路 | 第27-28页 |
3.3.3 经典与电压无关电流基准电路的亚阈值改型 | 第28-30页 |
3.3.4 亚阈值高电源抑制比基准电路 | 第30页 |
3.3.5 本芯片中使用的基准源设计 | 第30-32页 |
3.4 时钟产生电路的设计 | 第32-37页 |
3.4.1 限制正负电流供给的环形振荡器 | 第33-34页 |
3.4.2 环形比较器振荡器 | 第34-35页 |
3.4.3 带温度补偿的环形振荡器 | 第35-37页 |
3.5 解调电路的设计 | 第37-39页 |
3.6 上电复位电路的设计 | 第39-41页 |
3.7 限压电路的设计 | 第41-44页 |
3.7.1 使用反馈放大器的限压电路 | 第41-42页 |
3.7.2 单MOS管限压电路 | 第42-43页 |
3.7.3 三极管限压电路 | 第43-44页 |
3.8 本章小结 | 第44-45页 |
4 UHF RFID芯片的设计验证 | 第45-65页 |
4.1 UHF RFID芯片整体参数及其分解 | 第45-46页 |
4.2 整流器电路的仿真和验证 | 第46-51页 |
4.2.1 整流器电路的仿真环境 | 第46-47页 |
4.2.2 整流器电路的仿真参数 | 第47-49页 |
4.2.3 整流器电路的工艺角验证及结果 | 第49-51页 |
4.3 反射调制电路的仿真和验证 | 第51-54页 |
4.4 参考源电路的仿真和验证 | 第54-56页 |
4.4.1 参考源电路的仿真环境 | 第54-55页 |
4.4.2 参考源电路的仿真参数 | 第55页 |
4.4.3 参考源电路的工艺角验证及结果 | 第55-56页 |
4.5 时钟产生电路的仿真和验证 | 第56-60页 |
4.5.1 时钟产生电路的仿真环境 | 第56-58页 |
4.5.2 时钟产生电路的仿真参数 | 第58-59页 |
4.5.3 时钟产生电路的工艺角验证及结果 | 第59-60页 |
4.6 解调电路的仿真和验证 | 第60-62页 |
4.6.1 解调电路的仿真环境 | 第60页 |
4.6.2 解调电路的仿真参数 | 第60-61页 |
4.6.3 解调电路的工艺角验证及结果 | 第61-62页 |
4.7 上电复位电路的仿真和验证 | 第62-63页 |
4.8 限压电路的仿真和验证 | 第63-64页 |
4.9 本章小结 | 第64-65页 |
5 UHF RFID芯片的版图 | 第65-69页 |
5.1 UHF RFID芯片的版图布局 | 第65-66页 |
5.2 整流器、反射调制电路及解调电路的版图 | 第66-67页 |
5.3 参考源电路的版图 | 第67页 |
5.4 时钟产生电路的版图 | 第67-68页 |
5.5 复位电路的版图 | 第68页 |
5.6 本章小结 | 第68-69页 |
6 UHF RFID芯片的测试 | 第69-79页 |
6.1 整流器测试 | 第69-71页 |
6.2 偏置电路测试 | 第71-72页 |
6.3 时钟产生电路测试 | 第72-73页 |
6.4 解调电路测试 | 第73-74页 |
6.5 上电复位电路测试 | 第74-75页 |
6.6 总电流测试 | 第75-77页 |
6.7 温度测试 | 第77-78页 |
6.8 本章小结 | 第78-79页 |
7 结论 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
攻读学位期间发表和撰写的学术论文 | 第83-85页 |