基于预编译库的逻辑综合算法的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第7-13页 |
| 1.1 电子设计自动化概述 | 第7-9页 |
| 1.2 现场可编程逻辑门阵列 | 第9-11页 |
| 1.3 研究背景 | 第11页 |
| 1.4 主要工作 | 第11-12页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第12-13页 |
| 第2章 传统逻辑综合方法 | 第13-27页 |
| 2.1 概述 | 第13页 |
| 2.2 基本概念 | 第13-17页 |
| 2.2.1 术语定义 | 第13-15页 |
| 2.2.2 AIG | 第15-17页 |
| 2.3 SOP平衡树算法 | 第17-19页 |
| 2.4 工艺映射流程 | 第19-27页 |
| 第3章 基于预编译库的逻辑综合算法 | 第27-51页 |
| 3.1 概述 | 第27-28页 |
| 3.2 函数分类 | 第28-33页 |
| 3.2.1 传统分类方法—NPN | 第29-30页 |
| 3.2.2 本文方法—准NPN类 | 第30-33页 |
| 3.3 预编译库数据结构 | 第33-40页 |
| 3.3.1 电路结构的存储 | 第33-34页 |
| 3.3.2 库的哈希查找 | 第34-37页 |
| 3.3.3 延时信息与库的修剪 | 第37-40页 |
| 3.4 建库方法 | 第40-43页 |
| 3.4.1 割集浏览 | 第40-41页 |
| 3.4.2 割集添加 | 第41-43页 |
| 3.5 算法应用：AIG级数优化 | 第43-46页 |
| 3.6 使用方法 | 第46-49页 |
| 3.7 一些改进 | 第49-51页 |
| 第4章 实验结果 | 第51-59页 |
| 4.1 库覆盖率测试 | 第51-53页 |
| 4.2 建立6输入预编译库 | 第53-54页 |
| 4.3 优化LUT工艺映射 | 第54-59页 |
| 第5章 FPGA的抗辐射布局算法 | 第59-68页 |
| 5.1 概述 | 第59-60页 |
| 5.2 FPGA软错误分类 | 第60-62页 |
| 5.3 抗辐射布局算法 | 第62-66页 |
| 5.4 实验结果 | 第66-68页 |
| 第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 工作总结 | 第68-69页 |
| 6.2 工作展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 攻读学位期间科研成果 | 第74-75页 |
