| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 手机壳三维面形测量的发展现状 | 第11页 |
| 1.3 三维面形测量的基本方法 | 第11-13页 |
| 1.3.1 接触式测量方法 | 第11-12页 |
| 1.3.2 非接触式测量方法 | 第12-13页 |
| 1.4 手机壳三维面形测量的基本方法 | 第13-16页 |
| 1.4.1 激光三角法 | 第13-14页 |
| 1.4.2 摄影测量法 | 第14-15页 |
| 1.4.3 结构光测量法 | 第15-16页 |
| 1.5 本文主要内容 | 第16-18页 |
| 第二章 基于光学三维测量技术的手机壳面形检测方法理论分析 | 第18-29页 |
| 2.1 条纹投影系统理论分析 | 第18-24页 |
| 2.1.1 条纹投影技术基本原理 | 第18-22页 |
| 2.1.2 影响条纹投影系统测量精度的因素 | 第22-24页 |
| 2.2 条纹反射系统理论分析 | 第24-27页 |
| 2.2.1 条纹反射系统基本原理 | 第24-26页 |
| 2.2.2 影响条纹反射系统测量精度的因素 | 第26-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 不同材质手机壳表面质量检测方法研究 | 第29-46页 |
| 3.1 不同类型手机壳光学特性分析 | 第29-32页 |
| 3.1.1 反射模型 | 第29-31页 |
| 3.1.2 表面粗糙度 | 第31页 |
| 3.1.3 手机壳表面反射特性分析 | 第31-32页 |
| 3.2 低反射率手机壳表面质量检测方法研究 | 第32-40页 |
| 3.2.1 反射特性对条纹反射系统测量精度的影响 | 第33-37页 |
| 3.2.2 反射特性对条纹投影系统测量精度的影响 | 第37-40页 |
| 3.3 反射率对于测量精度的影响实验 | 第40-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 手机壳面形积分重建方法研究 | 第46-77页 |
| 4.1 梯度积分方法 | 第46-52页 |
| 4.1.1 十字路径积分法 | 第47页 |
| 4.1.2 傅里叶变换积分法 | 第47-49页 |
| 4.1.3 区域波前重构法 | 第49-52页 |
| 4.2 基于Southwell模型的提高算法 | 第52-60页 |
| 4.2.1 基于Southwell模型的Taylor高阶算法 | 第52-55页 |
| 4.2.2 基于Southwell模型的迭代补偿算法 | 第55页 |
| 4.2.3 Taylor高阶迭代算法及仿真实验 | 第55-60页 |
| 4.3 条纹投影和条纹反射复合迭代法 | 第60-70页 |
| 4.3.1 复合迭代法原理分析 | 第60-62页 |
| 4.3.2 复合迭代法仿真 | 第62-70页 |
| 4.4 条纹投影和条纹反射复合迭代法实验结果分析 | 第70-76页 |
| 4.4.1 条纹投影和条纹反射复合测量系统 | 第70-71页 |
| 4.4.2 实验结果分析 | 第71-76页 |
| 4.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第五章 低反射率手机壳表面质量检测的实验研究 | 第77-94页 |
| 5.1 手机壳表面缺陷分类以及缺陷检测方法 | 第77-80页 |
| 5.1.1 手机壳面形常见的缺陷 | 第77-79页 |
| 5.1.2 缺陷分析方法 | 第79-80页 |
| 5.2 手机壳外表面质量检测实验 | 第80-89页 |
| 5.2.1 实验系统的搭建 | 第80-82页 |
| 5.2.2 面形高度分布以及曲率变化 | 第82-85页 |
| 5.2.3 空间多尺度面形分析 | 第85-89页 |
| 5.3 手机内表面质量检测实验 | 第89-91页 |
| 5.3.1 手机内壳高度分析以及结构件分析 | 第89-91页 |
| 5.4 重建精度分析 | 第91-93页 |
| 5.5 本章总结 | 第93-94页 |
| 第六章 结论与展望 | 第94-96页 |
| 6.1 本论文研究总结 | 第94-95页 |
| 6.2 前景展望 | 第95-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-102页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第102-103页 |
