| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 计量测试的研究现状与发展分析 | 第10-13页 |
| 1.2.1 国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 计量测试技术的发展分析 | 第11-13页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 老化试验台计量测试系统方案设计 | 第14-24页 |
| 2.1 计量测试系统需求分析 | 第14-16页 |
| 2.1.1 电子元器件老化试验台特点分析 | 第14-15页 |
| 2.1.2 计量测试系统功能要求和技术指标 | 第15-16页 |
| 2.2 系统方案设计与选择 | 第16-23页 |
| 2.2.1 硬件方案设计 | 第17-22页 |
| 2.2.2 软件方案选择 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章老化试验台计量测试系统硬件设计 | 第24-38页 |
| 3.1 老化试验台计量测试系统硬件电路总体 | 第24-25页 |
| 3.2 电阻取样单元硬件设计 | 第25-27页 |
| 3.3 数据采集单元硬件设计 | 第27-30页 |
| 3.4 STM32处理器及接口电路设计 | 第30-32页 |
| 3.5 SD卡和红外通信单元硬件设计 | 第32-34页 |
| 3.6 TEC温控单元硬件设计 | 第34-37页 |
| 3.6.1 绝热材料的选取 | 第34-35页 |
| 3.6.2 温控单元设计 | 第35-37页 |
| 3.7 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 基于 μC/OS-Ⅲ实时系统的软件开发 | 第38-57页 |
| 4.1 基于 μC/OS-Ⅲ的计量测试系统软件框架 | 第38-39页 |
| 4.2 μC/OS-Ⅲ操作系统的移植搭建 | 第39-44页 |
| 4.2.1 移植条件 | 第39-40页 |
| 4.2.2 工程搭建 | 第40-41页 |
| 4.2.3 配置 μC/OS-Ⅲ内核 | 第41-42页 |
| 4.2.4 内核代码分析与修改 | 第42-44页 |
| 4.3 内核驱动程序开发 | 第44-52页 |
| 4.3.1 SD卡驱动程序开发 | 第44-49页 |
| 4.3.2 红外传输驱动程序开发 | 第49-50页 |
| 4.3.3 数据采集驱动程序开发 | 第50-52页 |
| 4.4 计量测试系统应用程序开发 | 第52-56页 |
| 4.4.1 μC/OS-Ⅲ下位机应用程序开发 | 第52-54页 |
| 4.4.2 LabVIEW上位机应用程序开发 | 第54-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 系统功能验证及性能评估 | 第57-73页 |
| 5.1 系统功能验证 | 第57-61页 |
| 5.1.1 系统主要单元功能验证 | 第58-60页 |
| 5.1.2 整体平台搭建与验证 | 第60-61页 |
| 5.2 系统性能评估 | 第61-72页 |
| 5.2.1 数据采集的校正与补偿 | 第61-65页 |
| 5.2.2 系统误差测量 | 第65-67页 |
| 5.2.3 不确定度评定 | 第67-72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 结论 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |