| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 课题研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.2 基于电容敏感机理的电容成像技术发展现状 | 第10-15页 |
| 1.2.1 ECT技术国内外发展现状 | 第10-13页 |
| 1.2.2 平面阵列电极成像技术国内外发展现状 | 第13-15页 |
| 1.3 常用复合材料构件缺陷检测方法 | 第15-18页 |
| 1.3.1 X射线检测方法 | 第15-16页 |
| 1.3.2 超声波检测方法 | 第16页 |
| 1.3.3 红外热成像检测方法 | 第16-17页 |
| 1.3.4 激光散斑成像检测方法 | 第17页 |
| 1.3.5 涡流检测方法 | 第17-18页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 平面阵列电容成像检测原理及方案 | 第20-29页 |
| 2.1 ECT技术原理和应用 | 第20页 |
| 2.2 平面阵列电容检测原理 | 第20-21页 |
| 2.3 ECT数学描述 | 第21-25页 |
| 2.3.1 似稳场 | 第22页 |
| 2.3.2 ECT敏感场的数学描述 | 第22-23页 |
| 2.3.3 ECT的正问题逆问题 | 第23-25页 |
| 2.4 平面阵列电容成像系统方案 | 第25-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于有限元分析的平面阵列电极优化设计 | 第29-48页 |
| 3.1 有限元法简介及三维电场仿真 | 第29-31页 |
| 3.1.1 有限元法概述 | 第29页 |
| 3.1.2 平面阵列传感器的三维电场有限元仿真 | 第29-31页 |
| 3.2 平面阵列电极优化设计 | 第31-32页 |
| 3.3 屏蔽层对传感器检测系统的作用 | 第32-35页 |
| 3.4 平面阵列电极结构参数优化设计 | 第35-45页 |
| 3.4.1 电极长度对平面阵列电极系统的影响 | 第35-37页 |
| 3.4.2 电极宽度对平面阵列电极系统的影响 | 第37-39页 |
| 3.4.3 电极间距对平面阵列电极系统的影响 | 第39-41页 |
| 3.4.4 基板厚度对平面阵列电极系统的影响 | 第41-43页 |
| 3.4.5 基板相对介电常数对平面阵列电极系统的影响 | 第43-45页 |
| 3.5 平面阵列电容传感器参数优化总结 | 第45-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 三维敏感场建模与分析 | 第48-59页 |
| 4.1 ECT敏感场灵敏度分布 | 第48-50页 |
| 4.1.1 敏感场计算 | 第48-50页 |
| 4.1.2 敏感场分布 | 第50页 |
| 4.2 三维空间敏感场的分层处理 | 第50-54页 |
| 4.3 基于不同层处的敏感场图像重建结果与分析 | 第54-58页 |
| 4.3.1 三维空间敏感场叠加灵敏度图像重建结果 | 第55-56页 |
| 4.3.2 三维空间敏感场分层处理图像重建结果 | 第56-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 平面阵列电极的胶层缺陷成像检测实验 | 第59-69页 |
| 5.1 平面阵列电容传感器穿透深度实验 | 第59-60页 |
| 5.2 有限元仿真胶层缺陷对电容影响实验 | 第60-61页 |
| 5.3 实测胶层缺陷对电容影响实验 | 第61-68页 |
| 5.3.1 胶层孔洞缺陷 | 第61-64页 |
| 5.3.2 胶层中气泡缺陷 | 第64-66页 |
| 5.3.3 不同胶层厚度实验 | 第66-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-75页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |