| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-15页 |
| 1.2.1 半导体桥的国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.2 纳米复合含能薄膜的研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 2 Al/CuO-SCB的结构设计 | 第17-21页 |
| 2.1 Al/CuO-SCB复合薄膜的分析 | 第17页 |
| 2.2 Al/CuO-SCB的结构 | 第17-19页 |
| 2.3 含能薄膜制备方法的选择 | 第19-20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 3 Al/CuO-SCB恒流安全性实验研究 | 第21-30页 |
| 3.1 恒流安全性实验原理 | 第21页 |
| 3.2 Al/CuO-SCB火工品1A1W5min不发火实验结果 | 第21-26页 |
| 3.2.1 不同桥区尺寸Al/CuO-SCB火工品1A1W5min不发火实验 | 第21-22页 |
| 3.2.2 PSCB火工品和Al/CuO-SCB火工品1A1W5min不发火实验 | 第22-26页 |
| 3.3 恒流作用下Al/CuO-SCB表面温度变化规律 | 第26-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 4 Al/CuO-SCB静电作用下含能半导体桥温度分布的模拟 | 第30-39页 |
| 4.1 ANSYS软件的一般分析过程 | 第30-31页 |
| 4.2 静电作用下含能半导体桥有限元模型分析与建立 | 第31-37页 |
| 4.2.1 问题的描述与分析 | 第31-32页 |
| 4.2.2 含能半导体桥有限元模型的建立 | 第32-33页 |
| 4.2.3 静电作用下含能半导体桥温度分布模拟结果 | 第33-37页 |
| 4.3 本章小结 | 第37-39页 |
| 5 Al/CuO-SCB静电安全性实验研究 | 第39-50页 |
| 5.1 静电实验原理 | 第39页 |
| 5.2 静电对含能半导体桥的作用和性能影响 | 第39-48页 |
| 5.3 静电放电作用下ANSYS模拟结果与实验结果的比较 | 第48-49页 |
| 5.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 6 Al/CuO-SCB非接触式点火性能初探 | 第50-59页 |
| 6.1 感度实验方法及原理 | 第50页 |
| 6.2 实验样品 | 第50-52页 |
| 6.3 电容放电点火感度实验 | 第52-56页 |
| 6.3.1 电容放电实验原理 | 第52-53页 |
| 6.3.2 实验结果 | 第53-56页 |
| 6.4 恒流激励点火感度实验 | 第56-58页 |
| 6.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 7 全文结论 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
