| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 课题背景 | 第9页 |
| 1.2 微弧氧化技术 | 第9-14页 |
| 1.2.1 微弧氧化发展历史 | 第10页 |
| 1.2.2 微弧氧化基本原理 | 第10-12页 |
| 1.2.3 微弧氧化的影响因素 | 第12-14页 |
| 1.3 超声波技术概述 | 第14-18页 |
| 1.3.1 超声波的特点 | 第14-15页 |
| 1.3.2 超声波的基本效应 | 第15-17页 |
| 1.3.3 超声波在材料领域的应用 | 第17-18页 |
| 1.4 本文研究的主要内容 | 第18-19页 |
| 第2章 实验设备和研究方法 | 第19-23页 |
| 2.1 实验材料及前处理 | 第19页 |
| 2.1.1 基体材料 | 第19页 |
| 2.1.2 试样前处理 | 第19页 |
| 2.2 实验设备 | 第19-20页 |
| 2.2.1 微弧氧化设备 | 第19-20页 |
| 2.2.2 超声波装置 | 第20页 |
| 2.3 试样制备方法 | 第20-21页 |
| 2.3.1 XRD试样的制备 | 第20-21页 |
| 2.3.2 扫描电镜试样的制备 | 第21页 |
| 2.3.3 电化学检测试样的制备 | 第21页 |
| 2.4 研究方法 | 第21-22页 |
| 2.4.1 陶瓷层厚度测定 | 第21-22页 |
| 2.4.2 电压的测定 | 第22页 |
| 2.4.3 陶瓷层显微组织及成分分析 | 第22页 |
| 2.4.4 陶瓷层相组成 | 第22页 |
| 2.4.5 电化学测定 | 第22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 添加剂六偏磷酸钠对微弧氧化的影响 | 第23-41页 |
| 3.1 六偏磷酸钠对微弧氧化电压的影响 | 第23-25页 |
| 3.2 六偏磷酸钠对微弧氧化电解液理化性质的影响 | 第25页 |
| 3.3 六偏磷酸钠对微弧氧化膜层物相的影响 | 第25-29页 |
| 3.4 六偏磷酸钠对微弧氧化膜层形貌的影响 | 第29-34页 |
| 3.4.1 六偏磷酸钠对微弧氧化膜层表面形貌的影响 | 第29-31页 |
| 3.4.2 六偏磷酸钠对微弧氧化膜层/基体界面处的膜层形貌影响 | 第31-33页 |
| 3.4.3 六偏磷酸钠对微弧氧化膜层微断口形貌的影响 | 第33-34页 |
| 3.5 两步法膜层形貌的分析 | 第34-40页 |
| 3.5.1 两步法膜层的表面形貌 | 第34-35页 |
| 3.5.2 两步法膜层的膜层/基体界面处形貌 | 第35-37页 |
| 3.5.3 两步法膜层的微断口形貌 | 第37-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 超声波对微弧氧化初期陶瓷层的影响 | 第41-59页 |
| 4.1 超声波对微弧氧化电压的影响 | 第41页 |
| 4.2 超声波对微弧氧化膜层物相的影响 | 第41-43页 |
| 4.3 超声波对微弧氧化膜层形貌的影响 | 第43-50页 |
| 4.3.1 超声波对微弧氧化膜层表面形貌的影响 | 第43-47页 |
| 4.3.2 超声波对微弧氧化膜层断面及背面形貌的影响 | 第47-50页 |
| 4.4 超声波对微弧氧化膜层的耐蚀性能的影响 | 第50-57页 |
| 4.4.1 电化学阻抗谱（EIS）测试 | 第50-55页 |
| 4.4.2 极化曲线 | 第55-57页 |
| 4.5 讨论 | 第57-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
