| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 1 绪论 | 第17-35页 |
| 1.1 引言 | 第17-20页 |
| 1.2 微测辐射热计的研究现状与发展趋势 | 第20-24页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第20-22页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第22-23页 |
| 1.2.3 微测辐射热计的发展趋势 | 第23-24页 |
| 1.3 微测辐射热计读出电路的研究现状与发展趋势 | 第24-32页 |
| 1.3.1 微测辐射热计读出电路的研究现状 | 第24-31页 |
| 1.3.2 微测辐射热计读出电路的发展趋势 | 第31-32页 |
| 1.4 论文研究内容 | 第32-33页 |
| 1.5 论文章节安排 | 第33-35页 |
| 2 微测辐射热计特性参数研究与测试 | 第35-61页 |
| 2.1 微测辐射热计原理与结构 | 第35-38页 |
| 2.2 微测辐射热计电学参数测试 | 第38-55页 |
| 2.2.1 微测辐射热计电学测试方法 | 第40-42页 |
| 2.2.2 微测辐射热计电学测试系统 | 第42-50页 |
| 2.2.3 实验与测试结果分析 | 第50-55页 |
| 2.3 非制冷红外探测器热学参数测试 | 第55-60页 |
| 2.3.1 微测辐射热计热学测试方法 | 第55-57页 |
| 2.3.2 微测辐射热计热学测试系统 | 第57-58页 |
| 2.3.3 实验与测试结果分析 | 第58-60页 |
| 2.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 3 微测辐射热计读出电路结构分析与设计 | 第61-98页 |
| 3.1 读出电路设计指标 | 第61-63页 |
| 3.2 读出电路总体结构设计 | 第63-67页 |
| 3.3 偏置电路设计与性能分析 | 第67-74页 |
| 3.3.1 偏置电路设计 | 第69-70页 |
| 3.3.2 偏置电路性能分析 | 第70-74页 |
| 3.4 积分单元设计与性能分析 | 第74-83页 |
| 3.4.1 积分单元设计 | 第74-75页 |
| 3.4.2 积分单元性能分析 | 第75-79页 |
| 3.4.3 积分运放设计 | 第79-81页 |
| 3.4.4 积分运放性能分析 | 第81-83页 |
| 3.5 单电容相关双采样电路设计与分析 | 第83-90页 |
| 3.5.1 采样保持电路结构 | 第83-87页 |
| 3.5.2 单电容相关双采样电路设计 | 第87-88页 |
| 3.5.3 单电容相关双采样电路性能分析 | 第88-90页 |
| 3.6 仿真实验与分析 | 第90-97页 |
| 3.6.1 积分运放仿真 | 第90-92页 |
| 3.6.2 偏置电路仿真 | 第92页 |
| 3.6.3 积分单元仿真 | 第92-95页 |
| 3.6.4 单电容相关双采样电路仿真 | 第95-97页 |
| 3.7 本章小结 | 第97-98页 |
| 4 背景电流自补偿方法研究与实现 | 第98-134页 |
| 4.1 背景电流补偿的意义 | 第98页 |
| 4.2 背景电流补偿方法综述 | 第98-104页 |
| 4.2.1 单管CMOS补偿法 | 第99页 |
| 4.2.2 盲元电阻补偿法 | 第99-100页 |
| 4.2.3 电流记忆补偿法 | 第100-101页 |
| 4.2.4 缓冲栅极电流调制法 | 第101-102页 |
| 4.2.5 惠斯登电桥法 | 第102-103页 |
| 4.2.6 改进的多位电桥法 | 第103-104页 |
| 4.3 背景电流自补偿电路设计与分析 | 第104-111页 |
| 4.3.1 背景电流自补偿方法研究 | 第104-106页 |
| 4.3.2 背景电流自补偿电路设计 | 第106-110页 |
| 4.3.3 背景电流自补偿电路性能分析 | 第110-111页 |
| 4.4 低温度系数高工艺容差性电流源补偿电路研究与设计 | 第111-117页 |
| 4.4.1 低温度系数高工艺容差性电流源补偿电路研究 | 第111-115页 |
| 4.4.2 低温度系数高工艺容差性电流源补偿电路设计 | 第115-117页 |
| 4.5 高速比较器设计与性能优化 | 第117-121页 |
| 4.5.1 高速比较器设计 | 第117-118页 |
| 4.5.2 高速比较性能优化 | 第118-121页 |
| 4.6 R-2R梯形电阻网络型DAC设计 | 第121-126页 |
| 4.6.1 DAC位数确定及DAC结构选择 | 第121页 |
| 4.6.2 R-2R型DAC工作原理 | 第121-123页 |
| 4.6.3 R-2R型DAC电路设计 | 第123-126页 |
| 4.7 仿真实验与分析 | 第126-133页 |
| 4.7.1 背景电流自补偿电路功能仿真与实现 | 第126-129页 |
| 4.7.2 自补偿电路数字模块门级电路仿真 | 第129-130页 |
| 4.7.3 电流源补偿电路、DAC和比较器仿真 | 第130-133页 |
| 4.8 本章小结 | 第133-134页 |
| 5 读出电路的性能测试与分析 | 第134-152页 |
| 5.1 裸片封装与测试 | 第134-141页 |
| 5.1.1 电流源补偿电路线性度和温度系数测试 | 第135-136页 |
| 5.1.2 读出电路输出线性度测试 | 第136-137页 |
| 5.1.3 读出电路功能测试 | 第137-138页 |
| 5.1.4 读出电路噪声测试 | 第138-140页 |
| 5.1.5 背景电流自补偿电路测试 | 第140-141页 |
| 5.2 整机测试 | 第141-151页 |
| 5.2.1 热电机制测试 | 第141-143页 |
| 5.2.2 相对光谱响应测试 | 第143-145页 |
| 5.2.3 无TEC条件下自补偿功能测试 | 第145-146页 |
| 5.2.4 响应率测试和噪声等效温差测试 | 第146-150页 |
| 5.2.5 芯片测试性能 | 第150-151页 |
| 5.3 本章小结 | 第151-152页 |
| 6 总结与展望 | 第152-155页 |
| 6.1 研究工作总结 | 第152-153页 |
| 6.2 论文主要创新点 | 第153-154页 |
| 6.3 后续工作展望 | 第154-155页 |
| 致谢 | 第155-157页 |
| 参考文献 | 第157-169页 |
| 附录 | 第169页 |
