基于ARM的半导体制冷器自学习智能测控系统
目录 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第8-13页 |
·课题研究背景及意义 | 第8-10页 |
·半导体制冷材料研究现状 | 第8-9页 |
·半导体制冷结构性能研究现状 | 第9-10页 |
·恒温控制概述 | 第10-11页 |
·恒温测控概述 | 第10-11页 |
·半导体制冷恒温控制概述 | 第11页 |
·本课题研究目的和主要研究内容 | 第11-13页 |
第2章 半导体制冷原理与温度场分析 | 第13-21页 |
·半导体制冷器物理原理 | 第13-15页 |
·热电效应的产生 | 第13-14页 |
·半导体制冷原理 | 第14-15页 |
·半导体制冷最佳特性分析 | 第15-18页 |
·最大制冷量工况 | 第16页 |
·最大制冷效率工况 | 第16-17页 |
·最大温差工况 | 第17-18页 |
·半导体制冷工况设计 | 第18页 |
·热分析基础 | 第18-19页 |
·半导体制冷热端散热方式 | 第19-21页 |
·自然对流散热 | 第20页 |
·强迫对流散热 | 第20页 |
·液体冷却散热 | 第20-21页 |
第3章 半导体制冷器实体温度场数值模拟分析 | 第21-32页 |
·引言 | 第21页 |
·有限元软件ANSYS与流体力学软件FLUENT | 第21-24页 |
·ANSYS介绍 | 第21-23页 |
·FLUENT介绍 | 第23-24页 |
·半导体制冷装置空间实体模型建立 | 第24页 |
·模型网格划分 | 第24-26页 |
·材料参数及加载条件 | 第26-27页 |
·数值模拟结果分析 | 第27-32页 |
第4章 半导体制冷器自学习智能测控系统硬件设计 | 第32-43页 |
·智能测控系统硬件总体结构设计 | 第32页 |
·主控模块选型 | 第32-38页 |
·ARM的选用 | 第32-33页 |
·ARM介绍 | 第33页 |
·铂电阻温度传感器 | 第33-34页 |
·高精度数模转换模块 | 第34-35页 |
·光耦隔离模块 | 第35-36页 |
·信号采集电源模块 | 第36-38页 |
·半导体程控驱动电源模块选型与设计 | 第38-40页 |
·程控电源设计 | 第38-39页 |
·H桥驱动设计 | 第39-40页 |
·显示模块选型与设计 | 第40页 |
·系统通信模块 | 第40-41页 |
·系统时钟与存储模块 | 第41-43页 |
第5章 半导体制冷器自学习智能测控系统软件设计 | 第43-58页 |
·软件开发环境 | 第43-44页 |
·UC/OS-Ⅱ实时操作系统 | 第44-51页 |
·uC/OS-Ⅱ操作系统介绍 | 第45页 |
·uCOS-Ⅱ系统在STM32上的移植 | 第45-50页 |
·uCGUI图形系统介绍 | 第50-51页 |
·软件组成 | 第51页 |
·主程序模块 | 第51-52页 |
·数据采集处理模块 | 第52页 |
·半导体制冷器电源模块 | 第52页 |
·自学习测控算法模块 | 第52-56页 |
·自学习测试算法 | 第53页 |
·PID控制算法 | 第53-56页 |
·数据显示模块 | 第56-58页 |
第6章 测试与实验结果 | 第58-68页 |
·测试方法及结果分析 | 第58-66页 |
·半导体制冷器自学习测控系统测试平台设计 | 第66-68页 |
第7章 结论与展望 | 第68-69页 |
·结论 | 第68页 |
·展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
作者简介 | 第72页 |