高精度TDI CMOS图像传感器模拟域累加器研究与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题背景 | 第7-8页 |
| ·TDI 图像传感器基本原理 | 第8页 |
| ·TDI CMOS 图像传感器发展现状 | 第8-9页 |
| ·TDI CMOS 图像传感器研究价值 | 第9-10页 |
| ·本文结构 | 第10-11页 |
| 第二章 TDI CMOS 图像传感器芯片架构设计 | 第11-18页 |
| ·像素曝光方式 | 第11-16页 |
| ·全局曝光 | 第12页 |
| ·列滚筒式曝光 | 第12-13页 |
| ·改进的列滚筒式曝光 | 第13页 |
| ·行滚筒式曝光 | 第13-14页 |
| ·改进的行滚筒式曝光 | 第14-16页 |
| ·累加方案与整体框架 | 第16-18页 |
| 第三章 累加器与像素配合工作时序设计 | 第18-32页 |
| ·芯片控制时序说明 | 第18-20页 |
| ·时序控制电路设计原理 | 第20-32页 |
| ·像素、累加器总体时序信号产生电路 | 第20页 |
| ·逻辑综合 | 第20-22页 |
| ·布局布线 | 第22-24页 |
| ·像素时序控制电路 | 第24-26页 |
| ·累加器时序控制电路 | 第26-30页 |
| ·时钟线布局分析 | 第30-32页 |
| 第四章 模拟域累加器设计 | 第32-75页 |
| ·现有模拟域累加器结构介绍 | 第32-37页 |
| ·模拟域累加器中关键模块介绍 | 第37-56页 |
| ·累加器 OPA 设计 | 第37-48页 |
| ·累加器噪声分析 | 第48-53页 |
| ·电荷注入消除 | 第53-54页 |
| ·像素源极跟随器负载电路 | 第54-55页 |
| ·累加器偏置电路电流镜 | 第55-56页 |
| ·现有模拟域累加器精度问题分析 | 第56-68页 |
| ·累加器前后仿结果对比 | 第56-59页 |
| ·非存储电容部分寄生分析 | 第59-60页 |
| ·单级存储器对精度的影响 | 第60-64页 |
| ·长总线大寄生产生的精度问题 | 第64-68页 |
| ·改进的模拟域累加器结构 | 第68-73页 |
| ·改进的总线寄生 | 第68-71页 |
| ·改进的累加器噪声分析 | 第71-73页 |
| ·改进的累加器仿真结果及版图设计 | 第73-75页 |
| 第五章 芯片测试方案 | 第75-81页 |
| ·芯片概览 | 第75-76页 |
| ·芯片直流工作点测试 | 第76-77页 |
| ·芯片瞬态测试 | 第77-80页 |
| ·精度测试 | 第77-79页 |
| ·噪声测试 | 第79-80页 |
| ·功率测试 | 第80-81页 |
| 第六章 总结与展望 | 第81-83页 |
| ·总结 | 第81页 |
| ·展望 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
