| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·CMOS 图像传感器简介 | 第7-8页 |
| ·CMOS 图像传感器的主要技术指标 | 第8-11页 |
| ·CMOS 图像传感器中列级ADC的国内外研究动态 | 第11-12页 |
| ·文章结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 CMOS 图像传感器ADC的理论基础 | 第13-24页 |
| ·CMOS 图像传感器ADC的分类 | 第13-15页 |
| ·像素级ADC | 第13页 |
| ·列级ADC | 第13-14页 |
| ·芯片级ADC | 第14-15页 |
| ·CMOS 图像传感器中列级ADC的性能指标 | 第15-19页 |
| ·静态性能指标 | 第15-17页 |
| ·动态性能指标 | 第17-19页 |
| ·几种常用列级ADC分析 | 第19-23页 |
| ·单斜ADC | 第19-21页 |
| ·逐次逼近ADC | 第21-22页 |
| ·循环ADC | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 两步逐次逼近ADC | 第24-42页 |
| ·整体结构 | 第24-25页 |
| ·分段电容DAC | 第25-32页 |
| ·分段电容DAC的工作原理 | 第25-27页 |
| ·非理想因素的理论分析 | 第27-32页 |
| ·比较器的设计 | 第32-38页 |
| ·比较器的分类 | 第32-34页 |
| ·比较器的失调校准 | 第34-35页 |
| ·比较器的电路实现 | 第35-38页 |
| ·逻辑控制模块的设计 | 第38-39页 |
| ·逻辑控制原理 | 第38页 |
| ·逻辑控制模块的电路实现 | 第38-39页 |
| ·整体电路的版图及后仿真 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 单斜与逐次逼近结合ADC | 第42-57页 |
| ·10 位SS-SA ADC设计优化 | 第42-43页 |
| ·10 位SS-SA ADC电路实现 | 第43-54页 |
| ·整体结构 | 第43-45页 |
| ·斜坡发生器 | 第45-50页 |
| ·DAC和逻辑控制单元模块 | 第50-51页 |
| ·误差校正 | 第51-54页 |
| ·仿真结果与分析 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 ADC测试 | 第57-64页 |
| ·ADC的测试方法 | 第57-60页 |
| ·码密度直方图法 | 第57-59页 |
| ·快速傅立叶变换法 | 第59-60页 |
| ·ADC的测试方案 | 第60-62页 |
| ·测试芯片管脚说明 | 第60-62页 |
| ·测试流程 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·工作总结 | 第64-65页 |
| ·工作展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |