| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 主要符号对照表 | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-39页 |
| ·电阻开关效应 | 第9-27页 |
| ·电阻开关效应的分类 | 第10-11页 |
| ·电阻开关效应的模型和机制 | 第11-25页 |
| ·电阻开关效应的应用 | 第25-27页 |
| ·电阻开关效应的相关物理基础 | 第27-33页 |
| ·电输运模型 | 第28-31页 |
| ·弛豫理论 | 第31-33页 |
| ·交流阻抗技术 | 第33-37页 |
| ·交流阻抗技术原理 | 第33-35页 |
| ·交流阻抗技术在电阻开关效应研究中的应用 | 第35-37页 |
| ·选题思路与研究内容 | 第37-39页 |
| 第2章 实验方法 | 第39-51页 |
| ·样品制备 | 第39-44页 |
| ·脉冲激光沉积技术 | 第39-42页 |
| ·磁控溅射技术 | 第42-44页 |
| ·电极制备 | 第44页 |
| ·样品质量表征 | 第44-51页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第44-45页 |
| ·原子力显微镜 | 第45-46页 |
| ·台阶仪测量薄膜厚度 | 第46-47页 |
| ·电输运性质测量 | 第47-48页 |
| ·复阻抗谱测量 | 第48-51页 |
| 第3章 LaAlO_3/Nb:SrTiO_3异质结构中陷阱控制的电阻开关效应和电输运 | 第51-76页 |
| ·引言 | 第51-52页 |
| ·样品的制备与表征 | 第52-54页 |
| ·LAO/NSTO 异质结构的电阻开关效应 | 第54-69页 |
| ·双极性电阻开关效应 | 第54-57页 |
| ·开关效应发生的区域 | 第57-62页 |
| ·低阻态的弛豫行为 | 第62-66页 |
| ·交流传导特性 | 第66-67页 |
| ·电阻开关效应的机制 | 第67-69页 |
| ·LAO/NSTO 异质结构中的电输运过程 | 第69-75页 |
| ·高低阻态的电输运机制 | 第69-71页 |
| ·历史过程对电输运的影响 | 第71-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第4章 几种典型电阻开关效应体系的阻抗特征 | 第76-91页 |
| ·引言 | 第76-77页 |
| ·样品的制备 | 第77-78页 |
| ·几种氧化物异质结构的电阻开关效应和阻抗特征 | 第78-89页 |
| ·Au/NiO/Pt 的电阻开关效应以及阻抗特征 | 第78-79页 |
| ·ITO/TiO_2/ITO 的电阻开关效应以及阻抗特征 | 第79-82页 |
| ·Ti/HfO_2/Pt 的电阻开关效应以及阻抗特征 | 第82-88页 |
| ·LaAlO_3/Nb:SrTiO_3的阻抗特征 | 第88-89页 |
| ·典型电阻开关效应体系的阻抗特征比较 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第5章 总结与展望 | 第91-93页 |
| ·研究总结 | 第91-92页 |
| ·展望 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-101页 |
| 致谢 | 第101-103页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第103页 |
