| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·研究背景、目的及意义 | 第9-10页 |
| ·应变测试仪国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·应变测试仪国外研究现状 | 第10-12页 |
| ·应变测试仪国内研究现状 | 第12-14页 |
| ·主要研究内容 | 第14-16页 |
| 2 基于大容量 FLASH 的微型应变测试仪的设计 | 第16-32页 |
| ·应变测试仪工作原理 | 第16页 |
| ·应变测量原理 | 第16页 |
| ·应变测试仪测试原理分析 | 第16页 |
| ·应变测试仪总体方案设计 | 第16-19页 |
| ·关键芯片型号的选型 | 第19-21页 |
| ·控制模块芯片的选型 | 第19-20页 |
| ·存储模块存储芯片的选型 | 第20-21页 |
| ·系统工作状态和低功耗分析 | 第21-23页 |
| ·关键技术研究 | 第23-31页 |
| ·微体积、高可靠性大容量存储测试技术 | 第23-28页 |
| ·多通道、多种采样模式测试技术 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 3 硬件方案设计 | 第32-44页 |
| ·前级电路设计 | 第32-39页 |
| ·电桥电路设计 | 第32-35页 |
| ·信号调理模块 | 第35-39页 |
| ·控制模块设计 | 第39-40页 |
| ·存储方案选择 | 第40页 |
| ·电源管理及接口电路 | 第40-41页 |
| ·电源管理电路设计 | 第40-41页 |
| ·接口电路设计 | 第41页 |
| ·电平匹配设计电路 | 第41-42页 |
| ·3.3V 电压转换电路 | 第41-42页 |
| ·2.5V 电压转换电路 | 第42页 |
| ·面板及壳体设计 | 第42-43页 |
| ·面板设计 | 第42-43页 |
| ·壳体设计 | 第43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 4 软件方案设计 | 第44-65页 |
| ·存储器程序设计 | 第44-53页 |
| ·存储器控制端口功能设计 | 第44-49页 |
| ·无效块检测设计 | 第49-50页 |
| ·块擦除设计 | 第50-52页 |
| ·数据存储设计 | 第52-53页 |
| ·读出数据设计 | 第53页 |
| ·程序总体构架 | 第53-54页 |
| ·控制模块程序设计 | 第54-58页 |
| ·应变测试仪各模块初始化 | 第54-55页 |
| ·采集时序设计 | 第55页 |
| ·电源管理程序设计 | 第55-56页 |
| ·数据采集存储实现过程 | 第56-58页 |
| ·读数软件设计 | 第58-64页 |
| ·握手协议 | 第58-63页 |
| ·上位机软件的设计 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 5 测试及结论 | 第65-77页 |
| ·应变测试仪的标定 | 第65-75页 |
| ·标定原理 | 第65-66页 |
| ·实验步骤 | 第66-67页 |
| ·标定数据 | 第67-69页 |
| ·数据处理 | 第69-75页 |
| ·应变测试仪测试实验 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 6 结论 | 第77-79页 |
| ·全文总结 | 第77页 |
| ·应变测试仪的创新点和不足 | 第77页 |
| ·前景展望 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研工作 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |