集成电路电磁干扰测量方法的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第1章 前言 | 第8-12页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·选题背景及意义 | 第8-10页 |
| ·国内外现状 | 第10-11页 |
| ·研究目的与研究内容 | 第11-12页 |
| 第2章 集成电路的电磁干扰及测量方法 | 第12-16页 |
| ·集成电路的电磁干扰 | 第12-14页 |
| ·集成电路的电磁干扰测量方法 | 第14-16页 |
| 第3章 集成电路电磁干扰测量原理 | 第16-26页 |
| ·测量原理 | 第16-21页 |
| ·直接耦合法的测量原理 | 第16-18页 |
| ·法拉第箱体法的测量原理 | 第18-21页 |
| ·测量设备 | 第21-26页 |
| ·RF测量设备 | 第21页 |
| ·RF电流探头 | 第21-22页 |
| ·阻抗匹配网络 | 第22-23页 |
| ·试验电路板 | 第23-24页 |
| ·法拉第箱体 | 第24-26页 |
| 第4章 测量方法与要求 | 第26-40页 |
| ·测试条件 | 第26页 |
| ·环境温度 | 第26页 |
| ·环境RF场强 | 第26页 |
| ·其它环境条件 | 第26页 |
| ·IC长期的稳定性 | 第26页 |
| ·IC工作状态 | 第26-28页 |
| ·IC管脚负载 | 第26-27页 |
| ·电源要求 | 第27页 |
| ·关于IC操作的指导 | 第27-28页 |
| ·试验布置 | 第28-31页 |
| ·直接耦合法 | 第28-30页 |
| ·法拉第箱体法 | 第30-31页 |
| ·试验过程 | 第31-33页 |
| ·环境检查 | 第31-32页 |
| ·操作检查 | 第32页 |
| ·执行测试 | 第32-33页 |
| ·结果判定与限值研究 | 第33-40页 |
| ·限值适用性分析 | 第33页 |
| ·直接耦合法发射电平的定义 | 第33-34页 |
| ·直接耦合法结果的表述 | 第34-36页 |
| ·直接耦合法限值电平的应用 | 第36-37页 |
| ·法拉第箱体法限值电平的应用 | 第37-40页 |
| 第5章 测量系统的研制与搭建 | 第40-67页 |
| ·测量系统的组成 | 第40-42页 |
| ·测量设备的研制与校准 | 第42-58页 |
| ·法拉第箱的制作 | 第42-44页 |
| ·法拉第箱的屏蔽效能 | 第44-46页 |
| ·150Ω耦合网络 | 第46-47页 |
| ·150Ω网络校准 | 第47-51页 |
| ·1ΩRF电流探头和150Ω阻抗匹配网络 | 第51-53页 |
| ·1ΩRF电流探头和150Ω阻抗匹配网络的校准 | 第53-58页 |
| ·测试验证与结果分析 | 第58-67页 |
| ·样品选取 | 第58-60页 |
| ·晶体振荡器测试结果 | 第60-62页 |
| ·优盘测试结果 | 第62-65页 |
| ·测试数据分析 | 第65-67页 |
| 第6章 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第70页 |
