CMOS图像传感器系统设计
| 1 绪论 | 第1-14页 |
| ·图像传感器的分类及特点 | 第7-11页 |
| ·电荷注入器件 | 第7-8页 |
| ·电荷调制器件 | 第8-9页 |
| ·电荷耦合器件 | 第9-10页 |
| ·CMOS图像传感器 | 第10-11页 |
| ·CMOS图像传感器的应用 | 第11-12页 |
| ·CMOS图像传感器的分类 | 第12-14页 |
| ·无源像素传感器 | 第12-13页 |
| ·有源像素传感器 | 第13-14页 |
| 2 CMOS图像传感器系统架构与性能 | 第14-18页 |
| ·CMOS图像传感器系统架构与描述 | 第14-15页 |
| ·CMOS图像传感器系统的设计要求 | 第15-18页 |
| ·像素单元设计要求 | 第15页 |
| ·相关二次采样电路设计要求 | 第15-16页 |
| ·模数转换电路设计要求 | 第16-17页 |
| ·基准电路设计要求 | 第17-18页 |
| 3 传感电路的设计与实现 | 第18-44页 |
| ·像素电路 | 第18-35页 |
| ·像素单元的设计 | 第18-26页 |
| ·光二极管结构选择 | 第18-20页 |
| ·电荷积分模式 | 第20-22页 |
| ·感光面积百分比 | 第22-23页 |
| ·重置MOS管 | 第23-25页 |
| ·读出电路 | 第25-26页 |
| ·像素阵列的时序考虑 | 第26-33页 |
| ·传统的时序 | 第26-29页 |
| ·多采样技术 | 第29-33页 |
| ·像素电路的实现与仿真 | 第33-35页 |
| ·相关二次采样电路 | 第35-41页 |
| ·相关二次采样电路的设计 | 第35-40页 |
| ·相关二次采样电路的实现与仿真 | 第40-41页 |
| ·CMOS图像传感器传感电路的联合仿真 | 第41-44页 |
| 4 模数转换器的设计与实现 | 第44-76页 |
| ·模数转换器的总体架构 | 第44-45页 |
| ·采样保持电路设计与实现 | 第45-48页 |
| ·采样保持电路的设计 | 第45-48页 |
| ·采样保持电路的测试仿真 | 第48页 |
| ·乘法数模转换电路的设计与实现 | 第48-53页 |
| ·乘法数模转换电路的设计 | 第48-52页 |
| ·运放增益和寄生电容的效应 | 第50-51页 |
| ·运放增益带宽的效应 | 第51-52页 |
| ·乘法数模转换电路的测试仿真 | 第52-53页 |
| ·子模数转换电路的设计与实现 | 第53-58页 |
| ·子模数转换电路的设计 | 第53-56页 |
| ·子模数转换电路的整体结构 | 第53-54页 |
| ·比较器的设计 | 第54-56页 |
| ·子模数转换电路的测试仿真 | 第56-58页 |
| ·运算放大器的设计与实现 | 第58-63页 |
| ·运算放大器的设计 | 第58-63页 |
| ·折叠式共源共栅放大器 | 第58-60页 |
| ·增益提高技术 | 第60-61页 |
| ·共模反馈 | 第61-63页 |
| ·运算放大器的测试仿真 | 第63页 |
| ·数字误差校正技术 | 第63-67页 |
| ·模数转换器中的误差 | 第67-70页 |
| ·ADC误差 | 第68页 |
| ·采样保持放大器误差 | 第68-69页 |
| ·DAC误差 | 第69-70页 |
| ·非理想开关电容电路的影响 | 第70-73页 |
| ·有限的运放增益 | 第70页 |
| ·噪声 | 第70-71页 |
| ·有限的带宽 | 第71-72页 |
| ·有限的转换速率 | 第72-73页 |
| ·Pipeline模数转换器的仿真测试 | 第73-76页 |
| 5 基准电路的设计与实现 | 第76-83页 |
| ·带隙基准电路基础 | 第76-79页 |
| ·带隙基准电路设计与实现 | 第79-83页 |
| 6 总结与展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
