| 摘要 | 第1-10页 |
| Abstract | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1．1 电磁特性测量与微波暗室 | 第11-12页 |
| 1．2 LabVIEW简介 | 第12-13页 |
| 1．3 课题内容的应用背景 | 第13-14页 |
| 1．4 论文结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 紧凑场结构与测量原理 | 第16-28页 |
| 2．1 紧凑场暗室的相关问题 | 第16-22页 |
| 2．1．1 微波暗室的结构形式及主要参数 | 第16-17页 |
| 2．1．2 抛物面天线馈源偏焦的研究 | 第17-20页 |
| 2．1．3 AMCCC系统的构成及工作原理 | 第20-22页 |
| 2．2 天线方向图测量原理 | 第22-24页 |
| 2．2．1 天线方向图测量过程 | 第22-23页 |
| 2．2．2 取样技术原理与应用 | 第23-24页 |
| 2．3 目标的 RCS测量原理 | 第24-26页 |
| 2．4 天线增益测量原理 | 第26-27页 |
| 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 LabVIEW程序设计原理及应用实例 | 第28-38页 |
| 3．1 LabVIEW程序设计基本思想与方法 | 第28-32页 |
| 3．1．1 LabVIEW编程的基础知识 | 第28-29页 |
| 3．1．2 LabVIEW的广泛应用 | 第29-30页 |
| 3．1．3 虚拟仪器的概念 | 第30-32页 |
| 3．2 LabVIEW的几个应用实例 | 第32-37页 |
| 3．2．1 信号产生与处理 | 第32-33页 |
| 3．2．2 LabVIEW中 DLL文件的创建 | 第33-36页 |
| 3．2．3 LabVIEW控制 Agilent 54642D混合信号示波器 | 第36-37页 |
| 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 天线方向图测量系统开发 | 第38-56页 |
| 4．1 方向图测量系统综述 | 第38-41页 |
| 4．1．1 系统构成及测量流程 | 第38-39页 |
| 4．1．2 TDS 8000B数字取样示波器 | 第39-41页 |
| 4．2 基于 GPIB的数字取样示波器控制 | 第41-45页 |
| 4．2．1 示波器设置程序的开发及相关概念 | 第41-43页 |
| 4．2．2 使用 VISA函数进行程序开发 | 第43-45页 |
| 4．3 基于 RS-232的转台控制程序 | 第45-53页 |
| 4．3．1 转动部分的组成及工作过程 | 第45-46页 |
| 4．3．2 转动控制的两种改造方案的分析与选择 | 第46-48页 |
| 4．3．3 转台控制程序的实现 | 第48-53页 |
| 4．4 完整的天线方向图测量系统 | 第53-55页 |
| 4．4．1 数据处理与显示设计 | 第53页 |
| 4．4．2 各子程序的连接与协调 | 第53-55页 |
| 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 紧凑场其它测量系统的开发 | 第56-62页 |
| 5．1 目标的雷达散射截面测量系统 | 第56-59页 |
| 5．1．1 系统构成及测量流程 | 第56-57页 |
| 5．1．2 RCS测量的编程实现 | 第57-59页 |
| 5．2 天线增益测量系统 | 第59-61页 |
| 5．2．1 系统构成及测量流程 | 第59-60页 |
| 5．2．2 天线增益测量的编程实现 | 第60-61页 |
| 本章小结 | 第61-62页 |
| 结束语 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 作者攻读硕士学位期间撰写和发表的论文 | 第65-66页 |
| 参考文献表 | 第66-67页 |