摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
1.1 无损检测技术概述 | 第7-9页 |
1.2 交变磁场测量法的特点及国内外研究现状 | 第9-10页 |
1.2.1 ACFM技术的特点 | 第9-10页 |
1.2.2 国内外发展现状 | 第10页 |
1.3 本课题的来源及意义 | 第10-11页 |
1.4 论文的主要内容 | 第11-12页 |
1.5 本章小结 | 第12-13页 |
第二章 交变磁场测量技术的理论基础及其工作原理 | 第13-25页 |
2.1 交变磁场测量缺陷的理论基础 | 第13-22页 |
2.1.1 检测系统的实际物理模型 | 第13页 |
2.1.2 激励线圈的感应场 | 第13-17页 |
2.1.3 铁磁导体引起的扰动场 | 第17-22页 |
2.2 ACFM的工作原理 | 第22-24页 |
2.2.1 ACFM的原理简介 | 第22-23页 |
2.2.2 缺陷尺寸和金属工件表面磁场分布关系分析 | 第23-24页 |
2.3 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 传感器(探头)的设计与制作 | 第25-33页 |
3.1 传感器的总体设计 | 第25-27页 |
3.1.1 激励线圈的设计 | 第25-26页 |
3.1.2 检测线圈的设计 | 第26页 |
3.1.3 传感器的总体结构 | 第26-27页 |
3.2 实验验证结果 | 第27-28页 |
3.3 应用于不同场合的传感器的设计 | 第28-29页 |
3.3.1 探头式传感器 | 第28-29页 |
3.3.2 用于检测曲面上缺陷的传感器 | 第29页 |
3.4 传感器的修改 | 第29-32页 |
3.4.1 检测线圈内置的情况 | 第29-31页 |
3.4.2 正交型矩形激励线圈的设计 | 第31-32页 |
3.5 本章小结 | 第32-33页 |
第四章 检测信号的处理方法研究 | 第33-42页 |
4.1 引言 | 第33页 |
4.2 锁定放大技术 | 第33-38页 |
4.2.1 相敏检波器原理介绍 | 第33-35页 |
4.2.2 锁定放大器原理 | 第35页 |
4.2.3 相敏检波器的信噪比分析 | 第35-38页 |
4.3 正交锁定放大器 | 第38-39页 |
4.3.1 正交型锁定放大器原理 | 第38页 |
4.3.2 AD633简介 | 第38-39页 |
4.4 低通滤波器的设计与应用 | 第39-40页 |
4.5 检测信号特征量提取的过程 | 第40-41页 |
4.6 本章小结 | 第41-42页 |
第五章 实验平台的搭建及无损检测仪器样机的研制 | 第42-55页 |
5.1 无损检测系统实验平台的组成 | 第42-44页 |
5.2 无损检测仪器的体系结构及组装 | 第44-47页 |
5.2.1 仪器的总体结构设计 | 第44-45页 |
5.2.2 仪器的组成结构 | 第45-47页 |
5.3 正交数字信号源的设计 | 第47-52页 |
5.3.1 DDS技术及AD7008芯片简介 | 第47-48页 |
5.3.2 信号源的组成及软硬件设计 | 第48-52页 |
5.4 电磁兼容性设计 | 第52-54页 |
5.5 本章小结 | 第54-55页 |
第六章 激励信号频率的改变对检测结果的影响 | 第55-61页 |
6.1 针对同一深度缺陷用不同激励频率的检测结果比较 | 第55-57页 |
6.2 对不同深度缺陷的检测结果 | 第57-59页 |
6.3 理论分析及结论 | 第59-60页 |
6.4 本章小结 | 第60-61页 |
第七章 裂纹缺陷识别的算法研究及定量检测 | 第61-71页 |
7.1 蝶形图 | 第61-62页 |
7.2 根据蝶形图识别缺陷 | 第62-65页 |
7.2.1 缺陷识别算法原理 | 第62-64页 |
7.2.2 缺陷识别的软件设计 | 第64-65页 |
7.3 裂纹型缺陷的定量检测 | 第65-70页 |
7.3.1 缺陷信息在检测信号中的反映 | 第65页 |
7.3.2 缺陷长度的测量 | 第65-68页 |
7.3.3 缺陷深度的测量 | 第68-70页 |
7.3.4 蝶形图的应用 | 第70页 |
7.4 本章小结 | 第70-71页 |
第八章 结论和展望 | 第71-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第77页 |