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基于交变磁场测量技术的金属表面缺陷检测系统的研究与实现

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第7-13页
 1.1 无损检测技术概述第7-9页
 1.2 交变磁场测量法的特点及国内外研究现状第9-10页
  1.2.1 ACFM技术的特点第9-10页
  1.2.2 国内外发展现状第10页
 1.3 本课题的来源及意义第10-11页
 1.4 论文的主要内容第11-12页
 1.5 本章小结第12-13页
第二章 交变磁场测量技术的理论基础及其工作原理第13-25页
 2.1 交变磁场测量缺陷的理论基础第13-22页
  2.1.1 检测系统的实际物理模型第13页
  2.1.2 激励线圈的感应场第13-17页
  2.1.3 铁磁导体引起的扰动场第17-22页
 2.2 ACFM的工作原理第22-24页
  2.2.1 ACFM的原理简介第22-23页
  2.2.2 缺陷尺寸和金属工件表面磁场分布关系分析第23-24页
 2.3 本章小结第24-25页
第三章 传感器(探头)的设计与制作第25-33页
 3.1 传感器的总体设计第25-27页
  3.1.1 激励线圈的设计第25-26页
  3.1.2 检测线圈的设计第26页
  3.1.3 传感器的总体结构第26-27页
 3.2 实验验证结果第27-28页
 3.3 应用于不同场合的传感器的设计第28-29页
  3.3.1 探头式传感器第28-29页
  3.3.2 用于检测曲面上缺陷的传感器第29页
 3.4 传感器的修改第29-32页
  3.4.1 检测线圈内置的情况第29-31页
  3.4.2 正交型矩形激励线圈的设计第31-32页
 3.5 本章小结第32-33页
第四章 检测信号的处理方法研究第33-42页
 4.1 引言第33页
 4.2 锁定放大技术第33-38页
  4.2.1 相敏检波器原理介绍第33-35页
  4.2.2 锁定放大器原理第35页
  4.2.3 相敏检波器的信噪比分析第35-38页
 4.3 正交锁定放大器第38-39页
  4.3.1 正交型锁定放大器原理第38页
  4.3.2 AD633简介第38-39页
 4.4 低通滤波器的设计与应用第39-40页
 4.5 检测信号特征量提取的过程第40-41页
 4.6 本章小结第41-42页
第五章 实验平台的搭建及无损检测仪器样机的研制第42-55页
 5.1 无损检测系统实验平台的组成第42-44页
 5.2 无损检测仪器的体系结构及组装第44-47页
  5.2.1 仪器的总体结构设计第44-45页
  5.2.2 仪器的组成结构第45-47页
 5.3 正交数字信号源的设计第47-52页
  5.3.1 DDS技术及AD7008芯片简介第47-48页
  5.3.2 信号源的组成及软硬件设计第48-52页
 5.4 电磁兼容性设计第52-54页
 5.5 本章小结第54-55页
第六章 激励信号频率的改变对检测结果的影响第55-61页
 6.1 针对同一深度缺陷用不同激励频率的检测结果比较第55-57页
 6.2 对不同深度缺陷的检测结果第57-59页
 6.3 理论分析及结论第59-60页
 6.4 本章小结第60-61页
第七章 裂纹缺陷识别的算法研究及定量检测第61-71页
 7.1 蝶形图第61-62页
 7.2 根据蝶形图识别缺陷第62-65页
  7.2.1 缺陷识别算法原理第62-64页
  7.2.2 缺陷识别的软件设计第64-65页
 7.3 裂纹型缺陷的定量检测第65-70页
  7.3.1 缺陷信息在检测信号中的反映第65页
  7.3.2 缺陷长度的测量第65-68页
  7.3.3 缺陷深度的测量第68-70页
  7.3.4 蝶形图的应用第70页
 7.4 本章小结第70-71页
第八章 结论和展望第71-73页
致谢第73-74页
参考文献第74-77页
附录 攻读硕士学位期间发表的学术论文第77页

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