| 中文摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-14页 |
| 1.1.1 X射线荧光光谱技术的重要发展史 | 第9页 |
| 1.1.2 X射线荧光光谱技术国内外应用现状 | 第9-14页 |
| 1.2 X射线荧光光谱法及在固态无机粉体行业的发展 | 第14-15页 |
| 1.2.1 X射线荧光光谱法 | 第14页 |
| 1.2.2 X射线荧光光谱法优缺点 | 第14-15页 |
| 1.3 传统化学分析法与X射线荧光光谱法的比较 | 第15-17页 |
| 1.3.1 传统化学分析方法 | 第15-17页 |
| 1.3.2 传统化学分析方法的缺点 | 第17页 |
| 1.4 电感耦合等离子法与X射线荧光光谱法比较 | 第17-19页 |
| 1.5 X射线荧光光谱法精确性与准确性 | 第19-20页 |
| 1.6 定量分析所需的各种样品 | 第20页 |
| 1.7 本论文研究目的与意义 | 第20-23页 |
| 1.7.1 研究目的 | 第20-21页 |
| 1.7.2 研究意义 | 第21-23页 |
| 第2章 实验部分 | 第23-41页 |
| 2.1 实验仪器设备 | 第23-25页 |
| 2.1.1 X射线荧光光谱仪AxiosPW4400 | 第23-24页 |
| 2.1.2 标准样品 | 第24-25页 |
| 2.1.3 熔片机 | 第25页 |
| 2.2 常用试剂 | 第25页 |
| 2.3 样品制备 | 第25-26页 |
| 2.4 光谱仪稳定性的建立 | 第26-28页 |
| 2.5 常量及微量元素曲线的建立 | 第28-35页 |
| 2.5.1 采用熔片法建立常量元素曲线 | 第28页 |
| 2.5.2 采用散射线内标法建立微量元素内标曲线 | 第28页 |
| 2.5.3 基体效应 | 第28-29页 |
| 2.5.4 谱线的选择原则 | 第29-32页 |
| 2.5.5 背景的扣除 | 第32-33页 |
| 2.5.6 测量条件 | 第33-35页 |
| 2.6 曲线确认 | 第35-38页 |
| 2.6.1 常量元素曲线建立 | 第35页 |
| 2.6.2 常量元素曲线确认 | 第35-36页 |
| 2.6.3 微量元素内标曲线建立 | 第36-37页 |
| 2.6.4 微量元素内标曲线确认 | 第37-38页 |
| 2.7 经典分析法(化学滴定法)测定水泥标样中常量元素 | 第38-39页 |
| 2.8 电感耦合等离子(ICP)法测定标样中微量元素 | 第39-41页 |
| 第3章 结果与讨论 | 第41-47页 |
| 3.1 光谱仪稳定性建立的必要性 | 第41页 |
| 3.2 方法的精确性 | 第41-44页 |
| 3.3 方法的准确性 | 第44-45页 |
| 3.4 结论 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 作者简介 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
