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380MHz~18GHz低杂散低相噪频率合成器的设计与实现

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第11-15页
    1.1 国内外研究动态第11-13页
        1.1.1 国外动态第11-12页
        1.1.2 国内动态第12-13页
    1.2 本文主要工作第13页
    1.3 本论文的结构安排第13-15页
第二章 频率合成器方案设计第15-25页
    2.1 频率合成技术简介第15-19页
    2.2 方案设计第19-21页
    2.3 方案的可行性分析第21-24页
    2.4 系统方案的难点分析第24页
    2.5 本章小结第24-25页
第三章 频率合成器的结构设计第25-29页
    3.1 外形尺寸及接口要求第25-26页
    3.2 结构设计第26-28页
    3.3 本章小结第28-29页
第四章 基带源设计第29-49页
    4.1 概述第29页
    4.2 锁相环(PLL)原理及基带源器件选型第29-34页
        4.2.1 锁相环的原理第30-32页
        4.2.2 器件选型第32-34页
    4.3 基带源电路设计第34-39页
    4.4 基带源单片机编程设计第39-43页
    4.5 基带源版图设计第43-44页
    4.6 基带源实测结果分析第44-48页
        4.6.1 相位噪声测试第44-46页
        4.6.2 杂散测试第46-47页
        4.6.3 频率切换时间测试第47-48页
    4.7 本章小节第48-49页
第五章 高频段设计第49-64页
    5.1 概述第49页
    5.2 倍频器原理及选型第49-52页
        5.2.1 倍频器原理第50-51页
        5.2.2 倍频器选型第51-52页
    5.3 滤波器原理及选型第52-55页
        5.3.1 滤波器原理第52-54页
        5.3.2 滤波器选型第54-55页
    5.4 开关选型第55-56页
    5.5 基带频段滤波设计第56-58页
    5.6 倍频段设计第58-60页
    5.7 版图及布局设计第60-63页
    5.8 本章小结第63-64页
第六章 成品及测试方法和测试结果第64-74页
    6.1 成品展示图第64-65页
    6.2 测试原理图第65-66页
    6.3 测试方法第66-68页
        6.3.1 测试电路的频率、频率稳定度和跳频步进第66页
        6.3.2 测试电路的输出功率、数控衰减步进第66-67页
        6.3.3 测试电路的谐波、杂波抑制和相位噪声第67页
        6.3.4 测试电路的脉冲调制功能第67页
        6.3.5 测试电路的频率转换时间第67-68页
    6.4 测试结果第68-73页
        6.4.1 测试数据第68-70页
        6.4.2 测试曲线第70-73页
    6.5 本章小结第73-74页
第七章 结论第74-76页
    7.1 本文的主要贡献第74-75页
    7.2 下一步工作的展望第75-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-78页

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