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自相关计数过程单侧EWMA控制图及性能分析

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 绪论第8-13页
    1.1 研究背景第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-11页
    1.3 研究意义第11页
    1.4 研究内容及技术路线第11-13页
第二章 自相关松计数过程及其控制图第13-19页
    2.1 自相关泊松计数过程第13-14页
        2.1.1 二项打薄算子第13-14页
        2.1.2 INARMA(p,q)模型第14页
    2.2 常用自相关计数过程控制图第14-19页
        2.2.1 残差控制图第15页
        2.2.2 条件控制图第15-16页
        2.2.3 移动平均控制图第16页
        2.2.4 其他控制图第16-17页
        2.2.5 控制图性能指标第17-19页
第三章 泊松 INAR(1)过程单侧 EWMA 控制图及性能研究第19-29页
    3.1 泊松 INAR(1)过程单侧 EWMA 控制图的建立第19页
    3.2 控制图性能指标计算第19-22页
        3.2.1 二维马尔科夫链模型第19-21页
        3.2.2 平均运行链长 ARL 的计算第21-22页
    3.3 控制图性能仿真研究第22-27页
        3.3.1 控制图性能比较第22-26页
        3.3.2 初始值对控制图性能影响第26-27页
    3.4 阶段结论第27-29页
第四章 参数估计对控制图性能的影响研究第29-49页
    4.1 INAR(1)过程参数估计第29-32页
    4.2 条件性能分析(Conditional performance)第32-46页
        4.2.1 受控时控制图性能影响第32-40页
        4.2.2 失控时控制图性能影响第40-46页
    4.3 边际性能影响(Marginal performance)第46-49页
第五章 结论及建议第49-51页
    5.1 主要创新及结论第49-50页
    5.2 研究展望第50-51页
参考文献第51-54页
发表论文和参加科研情况说明第54-55页
附录第55-63页
致谢第63页

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