摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-10页 |
第1章 绪论 | 第14-26页 |
1.1 研究背景 | 第14-16页 |
1.2 研究现状 | 第16-24页 |
1.2.1 常温PTC材料研究现状 | 第16-19页 |
1.2.2 PTC材料自适应热控技术研究进展 | 第19-21页 |
1.2.3 PTC材料高精度热控方法研究进展 | 第21-23页 |
1.2.4 热形变的高精度测试系统研究现状 | 第23-24页 |
1.3 本文的主要工作 | 第24-26页 |
第2章 常温PTC材料性质影响的初步研究 | 第26-45页 |
2.1 本章简介 | 第26页 |
2.2 导电填料为炭黑的高分子基PTC材料 | 第26-34页 |
2.2.1 材料制备 | 第27-28页 |
2.2.2 阻温曲线测试方法 | 第28-29页 |
2.2.3 样品测试与分析 | 第29-34页 |
2.3 钛酸钡基陶瓷PTC材料 | 第34-43页 |
2.3.1 材料制备 | 第34-39页 |
2.3.2 样品测试与分析 | 第39-43页 |
2.4 本章小结 | 第43-45页 |
第3章 新型常温PTC材料性质及其稳定性分析 | 第45-56页 |
3.1 本章简介 | 第45页 |
3.2 一系列常温居里点PTC材料 | 第45-46页 |
3.3 常温PTC材料的性质及表征 | 第46-50页 |
3.3.1 石蜡基常温PTC材料性质 | 第46-47页 |
3.3.2 正十八烷基常温PTC材料性质 | 第47-48页 |
3.3.3 正二十烷基常温PTC材料性质 | 第48-50页 |
3.4 PTC材料稳定性分析 | 第50-54页 |
3.4.1 石蜡基PTC材料稳定性 | 第50-52页 |
3.4.2 正十八烷基PTC材料稳定性 | 第52-53页 |
3.4.3 正二十烷基PTC材料稳定性 | 第53-54页 |
3.5 本章小结 | 第54-56页 |
第4章 常温PTC材料自适应控温的理论与实验研究 | 第56-68页 |
4.1 本章简介 | 第56页 |
4.2 PTC材料自适应控温的实验研究 | 第56-60页 |
4.2.1 实验系统 | 第56-58页 |
4.2.2 实验结果与分析 | 第58-60页 |
4.3 PTC材料自适应控温的理论研究 | 第60-64页 |
4.3.1 理论模型 | 第60-61页 |
4.3.2 模型验证 | 第61-62页 |
4.3.3 基于自适应控温模型的数值模拟 | 第62-64页 |
4.4 PTC材料自适应控温的温度稳定性分析 | 第64-67页 |
4.4.1 自适应控温的温度稳定性分析模型 | 第64页 |
4.4.2 初始加热功率对温度稳定性的影响 | 第64-66页 |
4.4.3 PTC材料自身参数对温度稳定性的影响 | 第66-67页 |
4.5 本章小结 | 第67-68页 |
第5章 常温PTC材料高精度控温的理论与实验研究 | 第68-88页 |
5.1 本章简介 | 第68页 |
5.2 PTC材料开关高精度控温实验研究 | 第68-72页 |
5.2.1 实验系统 | 第68-69页 |
5.2.2 实验结果与分析 | 第69-72页 |
5.3 PTC材料PID高精度控温实验系统与理论模型 | 第72-79页 |
5.3.1 PID高精度温控实验系统 | 第72-76页 |
5.3.2 传统PID算法及其在PTC控温过程中的局限性 | 第76-77页 |
5.3.3 PTC材料PID控温理论模型 | 第77-79页 |
5.4 PTC材料PID控温实验结果与分析 | 第79-83页 |
5.4.1 PTC材料PID控温特性 | 第79-80页 |
5.4.2 PTC材料与普通电阻PID控温对比 | 第80-83页 |
5.5 PTC材料PID控温仿真与分析 | 第83-86页 |
5.5.1 模型验证 | 第83-84页 |
5.5.2 PTC材料PID控温仿真分析 | 第84-86页 |
5.6 本章小结 | 第86-88页 |
第6章 基于外部优化电路的PTC控温初步探讨 | 第88-96页 |
6.1 本章简介 | 第88页 |
6.2 控温电路原理 | 第88-90页 |
6.3 PTC电阻控温优化电路方案实施与探讨 | 第90-95页 |
6.4 本章小结 | 第95-96页 |
第7章 温度-热形变测试平台的研制 | 第96-110页 |
7.1 本章简介 | 第96页 |
7.2 温度-热形变测试平台方案设计 | 第96-100页 |
7.2.1 测试方案选择 | 第96-98页 |
7.2.2 测量原理 | 第98-100页 |
7.3 测试平台搭建及测试结果 | 第100-108页 |
7.3.1 测试平台 | 第100-102页 |
7.3.2 待测装置及测试结果 | 第102-108页 |
7.4 本章小结 | 第108-110页 |
第8章 本文总结 | 第110-114页 |
8.1 工作总结 | 第110-113页 |
8.2 后续工作展望 | 第113-114页 |
参考文献 | 第114-121页 |
在读期间发表的学术论文及研究成果 | 第121-122页 |
致谢 | 第122页 |