| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 波前编码器件特性 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外现状 | 第12-15页 |
| 1.4 论文的结构安排和主要工作 | 第15-17页 |
| 第二章 合成式相位器件特性分析与检测方案筛选 | 第17-30页 |
| 2.1 合成式波前编码器件简介 | 第17-18页 |
| 2.2 检测方案优化及分析 | 第18-25页 |
| 2.2.1 三坐标面形轮廓法 | 第18-20页 |
| 2.2.2 可编程相位调制波前校正法 | 第20-22页 |
| 2.2.3 补偿镜法 | 第22-23页 |
| 2.2.4 计算全息法 | 第23-24页 |
| 2.2.5 各方案对比 | 第24-25页 |
| 2.3 计算全息图概述 | 第25-29页 |
| 2.3.1 计算全息图的定义 | 第25页 |
| 2.3.2 二元衍射光学元件的相位表示方式 | 第25-26页 |
| 2.3.3 计算全息图的分类 | 第26-27页 |
| 2.3.4 计算全息图的几个重要参数 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 检测系统与关键器件设计 | 第30-51页 |
| 3.1 计算全息图的设计考虑 | 第30-31页 |
| 3.1.1 计算全息图的参数选择 | 第30页 |
| 3.1.2 CGH检测合成式波前编码器件的光路选择 | 第30-31页 |
| 3.2 合成式波前编码器件检测系统设计 | 第31-38页 |
| 3.2.1 检测系统设计流程 | 第32页 |
| 3.2.2 测试光路优化设计 | 第32-35页 |
| 3.2.3 测试全息载频量的选取 | 第35-36页 |
| 3.2.4 校准光路优化设计 | 第36-37页 |
| 3.2.5 计算全息的优化设计结果 | 第37-38页 |
| 3.3 二元全息图的绘制 | 第38-42页 |
| 3.3.1 二元光学元件基本原理 | 第38-39页 |
| 3.3.2 测试全息刻蚀条纹位置搜索 | 第39-41页 |
| 3.3.3 校准全息刻蚀条纹位置搜索 | 第41-42页 |
| 3.3.4 绘制实例计算全息图图样 | 第42页 |
| 3.4 计算全息图制作简介 | 第42-44页 |
| 3.5 系统测试性能评估分析与仿真 | 第44-50页 |
| 3.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 实验检测与精度分析 | 第51-61页 |
| 4.1 Zygo干涉仪和检测系统 | 第51-53页 |
| 4.2 合成式波前编码器件检测实验 | 第53-60页 |
| 4.2.1 实验平台的搭建 | 第53-55页 |
| 4.2.2 实验结果及分析 | 第55-57页 |
| 4.2.3 实验精度分析 | 第57-60页 |
| 4.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 波前编码成像系统综合成像效果仿真 | 第61-65页 |
| 5.1 波前编码成像系统综合成像效果系统设计与分析 | 第61-64页 |
| 5.2 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 主要工作总结 | 第65-66页 |
| 6.2 展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表的论文 | 第71页 |
| 参加学术会议与项目 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |