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单测头剪切扫描在位测量方法研究

摘要第10-11页
ABSTRACT第11页
第一章 绪论第12-21页
    1.1 课题来源与意义第12-14页
        1.1.1 课题来源第12页
        1.1.2 研究背景与意义第12-14页
    1.2 超精密测量技术研究现状第14-19页
        1.2.1 国外研究现状第14-17页
        1.2.2 国内研究现状第17-18页
        1.2.3 发展趋势第18-19页
    1.3 论文的研究思路和内容第19-21页
第二章 单测头剪切扫描测量方法原理和系统第21-31页
    2.1 基于误差分离技术的单测头剪切扫描测量方法第21-24页
        2.1.1 多测头扫描测量方法第21-22页
        2.1.2 单测头剪切扫描测量方法第22-23页
        2.1.3 两测头逐次两点法原理第23-24页
        2.1.4 单测头逐次两点法原理第24页
    2.2 单测头逐次两点法测量系统构成第24-30页
        2.2.1 系统构成和工作原理第24-25页
        2.2.2 PI高精度直线运动平台第25-26页
        2.2.3 光谱共焦式传感器第26-28页
        2.2.4 剪切平台驱动元件第28-29页
        2.2.5 单片机与信号发生器第29-30页
    2.3 本章小结第30-31页
第三章 压电陶瓷驱动的剪切平台研制第31-43页
    3.1 剪切平台设计方案第31-32页
    3.2 柔性铰链结构设计和有限元仿真第32-38页
        3.2.1 柔性铰链材料和加工方法第32-33页
        3.2.2 柔性铰链结构和参数设计第33-36页
        3.2.3 剪切平台刚度及模态有限元分析第36-38页
    3.3 剪切平台性能测试第38-42页
        3.3.1 刚度测试第38-39页
        3.3.2 定位精度与重复定位精度测试第39-41页
        3.3.3 运动垂直方向重复性测试第41-42页
    3.4 本章小结第42-43页
第四章 单测头剪切扫描逐次两点法误差分析第43-58页
    4.1 测头位姿对重构精度的影响第43-47页
        4.1.1 测头与待测轮廓空间位置关系第43-44页
        4.1.2 XOY面测头位姿对差分值测量的影响第44-46页
        4.1.3 XOZ面测头位姿对差分值测量的影响第46-47页
    4.2 测量系统各误差因素对重构精度的影响第47-54页
        4.2.1 剪切量误差影响第47-50页
        4.2.2 扫描平台定位误差影响第50-52页
        4.2.3 测量噪声影响第52-53页
        4.2.4 测值漂移影响第53-54页
    4.3 误差估计与不确定度分析第54-57页
        4.3.1 测量不确定度的定义和评定方法第54-55页
        4.3.2 基于蒙特卡罗的重构误差估计与不确定度分析第55-57页
    4.4 本章小结第57-58页
第五章 光学表面轮廓测量实验第58-68页
    5.1 平面轮廓测量重构第58-64页
        5.1.1 实验准备第58-61页
        5.1.2 实验结果分析第61-64页
    5.2 曲面轮廓测量重构第64-67页
        5.2.1 实验准备第64页
        5.2.2 实验结果分析第64-67页
    5.3 本章小结第67-68页
第六章 结论与展望第68-70页
    6.1 本文总结第68-69页
    6.2 研究展望第69-70页
致谢第70-71页
参考文献第71-74页
作者在学期间取得的学术成果第74页

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