| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 数字信号系统检测技术概述、国内外现状及发展趋势 | 第9-13页 |
| 1.1.1 数字信号系统检测技术概述 | 第9-10页 |
| 1.1.2 数字信号系统检测技术国内外现状 | 第10-12页 |
| 1.1.3 数字信号系统检测技术发展趋势 | 第12-13页 |
| 1.2 虚拟仪器技术简介及前景 | 第13-16页 |
| 1.2.1 虚拟仪器技术简介 | 第13-15页 |
| 1.2.2 虚拟仪器技术的发展前景 | 第15-16页 |
| 1.3 VIIS-EM 平台介绍 | 第16-17页 |
| 1.3.1 VIIS-EM 简介 | 第16页 |
| 1.3.2 VIIS-EM 总体结构 | 第16-17页 |
| 1.4 论文研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 数字信号系统检测原理 | 第19-23页 |
| 2.1 数字信号系统检测基本思路 | 第19-20页 |
| 2.2 数字信号系统检测工具 | 第20-21页 |
| 2.3 系统的技术指标 | 第21-23页 |
| 2.3.1 逻辑分析仪的技术指标 | 第21-22页 |
| 2.3.2 数字集成电路（DIC）测试仪的技术指标 | 第22-23页 |
| 第3章 逻辑分析仪的设计方案 | 第23-37页 |
| 3.1 逻辑分析仪组成原理、分类及总体构架 | 第23-25页 |
| 3.1.1 逻辑分析仪组成原理 | 第23-24页 |
| 3.1.2 逻辑分析仪分类 | 第24页 |
| 3.1.3 逻辑分析仪总体设计 | 第24-25页 |
| 3.2 逻辑分析仪硬件关键模块设计 | 第25-33页 |
| 3.2.1 数据采集模块 | 第25-26页 |
| 3.2.2 微处理器模块 | 第26-27页 |
| 3.2.3 FPGA 关键模块 | 第27-33页 |
| 3.3 逻辑分析仪软件设计 | 第33-37页 |
| 3.3.1 LabVIEW 概述 | 第33页 |
| 3.3.2 软件结构总体设计 | 第33-34页 |
| 3.3.3 LabVIEW 控制界面设计 | 第34-35页 |
| 3.3.4 软件后面板关键程序模块 | 第35-37页 |
| 第4章 数字集成电路（DIC）测试仪的构建方案 | 第37-47页 |
| 4.1 DIC 测试仪功能检测思路及总体设计 | 第37-38页 |
| 4.1.1 DIC 测试仪功能检测思路 | 第37页 |
| 4.1.2 DIC 测试仪总体设计 | 第37-38页 |
| 4.2 DIC 测试仪硬件关键单元设计 | 第38-42页 |
| 4.2.1 信号激励单元 | 第38-39页 |
| 4.2.2 双口 RAM 单元 | 第39-41页 |
| 4.2.3 译码单元电路 | 第41-42页 |
| 4.3 DIC 测试仪软件设计 | 第42-47页 |
| 4.3.1 软件总体构建及人机交互界面设计 | 第42-43页 |
| 4.3.2 后面板关键程序模块 | 第43-47页 |
| 第5章 系统总线通信及驱动 | 第47-52页 |
| 5.1 系统内部总线 | 第47-48页 |
| 5.2 系统外部 USB 总线 | 第48-50页 |
| 5.3 系统驱动 | 第50-52页 |
| 5.3.1 USB 设备驱动开发 | 第50-51页 |
| 5.3.2 仪器驱动 | 第51-52页 |
| 第6章 系统调试及实测结果 | 第52-60页 |
| 6.1 逻辑分析仪实验案例及操作步骤与结果显示 | 第52-56页 |
| 6.1.1 实验测试案例 | 第52-53页 |
| 6.1.2 测试步骤与结果显示 | 第53-56页 |
| 6.2 DIC 测试仪实测结果 | 第56-59页 |
| 6.2.1 自定义测试步骤及结果显示 | 第56-57页 |
| 6.2.2 自动化测试用例 | 第57-59页 |
| 6.3 设计实物展示 | 第59-60页 |
| 第7章 总结 | 第60-62页 |
| 7.1 主要研究工作总结 | 第60-61页 |
| 7.2 进一步研究建议 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 作者简介及研究成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |