DRM/DAB接收机中的高性能宽带压控振荡器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-9页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第9-10页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第9-10页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第10页 |
| 1.4 论文组织 | 第10-12页 |
| 第2章 VCO设计基础 | 第12-28页 |
| 2.1 压控振荡器 | 第12-16页 |
| 2.1.1 压控振荡器的数学模型 | 第12-13页 |
| 2.1.2 振荡器的分析和仿真方法 | 第13-16页 |
| 2.2 可变电容 | 第16-18页 |
| 2.2.1 变容二极管 | 第16页 |
| 2.2.2 MOS变容管 | 第16-18页 |
| 2.3 相位噪声 | 第18-25页 |
| 2.3.1 相位噪声定义 | 第18页 |
| 2.3.2 振荡器的相位噪声模型 | 第18-24页 |
| 2.3.3 系统设计角度的相位噪声 | 第24-25页 |
| 2.4 宽带VCO的振荡幅度 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 宽带VCO结构选择 | 第28-54页 |
| 3.1 宽带VCO的结构 | 第28-30页 |
| 3.1.1 电感阵列结构 | 第28页 |
| 3.1.2 窄带VCO阵列结构 | 第28-29页 |
| 3.1.3 开关电容阵列结构 | 第29-30页 |
| 3.2 偏置电路的选择 | 第30-32页 |
| 3.3 交叉耦合对管的选择 | 第32-37页 |
| 3.4 尾电流源噪声的抑制结构 | 第37-39页 |
| 3.5 电感的选择 | 第39-43页 |
| 3.5.1 常用的电感种类 | 第39页 |
| 3.5.2 片上电感的选择 | 第39-43页 |
| 3.6 开关固定电容的选择 | 第43-46页 |
| 3.7 可变电容的选择 | 第46-47页 |
| 3.8 低压控增益变化的实现结构 | 第47-50页 |
| 3.9 振荡输出幅度的控制结构 | 第50-51页 |
| 3.9.1 数字反馈环路控制 | 第50页 |
| 3.9.2 模拟反馈环路控制 | 第50-51页 |
| 3.10 输出缓冲电路的设计 | 第51-53页 |
| 3.11 本章小结 | 第53-54页 |
| 第4章 振荡器的优化与仿真 | 第54-72页 |
| 4.1 相位噪声的优化分析 | 第54-55页 |
| 4.2 交叉耦合管的参数优化 | 第55-56页 |
| 4.3 电流镜的优化 | 第56-57页 |
| 4.4 模拟反馈环路的优化 | 第57-58页 |
| 4.5 可变电容阵列和控制电路的优化 | 第58-59页 |
| 4.6 前仿真结果 | 第59-64页 |
| 4.6.1 时域振荡状态仿真 | 第60-61页 |
| 4.6.2 频率压控曲线与压控增益 | 第61-62页 |
| 4.6.3 相位噪声 | 第62-64页 |
| 4.6.4 前仿真结果与设计指标对比 | 第64页 |
| 4.7 版图设计 | 第64-65页 |
| 4.8 后仿真结果 | 第65-70页 |
| 4.8.1 时域振荡状态仿真 | 第65-67页 |
| 4.8.2 频率压控曲线与压控增益 | 第67-68页 |
| 4.8.3 相位噪声 | 第68-70页 |
| 4.8.4 前后仿真结果与设计指标对比 | 第70页 |
| 4.9 本章小结 | 第70-72页 |
| 第5章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 5.1 总结 | 第72页 |
| 5.2 展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第80页 |
