| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-31页 |
| 1.1 课题研究的背景、目的和意义 | 第13-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-19页 |
| 1.3 光学层析显微成像技术及其相关理论的发展概况 | 第19-25页 |
| 1.3.1 共焦显微成像技术 | 第19-21页 |
| 1.3.2 单平面光照明显微成像技术 | 第21-23页 |
| 1.3.3 其它光学层析显微成像技术 | 第23-25页 |
| 1.4 宽场结构光照明三维显微成像技术的发展现状 | 第25-28页 |
| 1.5 本研究领域存在的科学问题及关键技术问题 | 第28-29页 |
| 1.6 本文的主要研究内容 | 第29-31页 |
| 第2章 宽场成像系统传递函数基础理论 | 第31-48页 |
| 2.1 引言 | 第31页 |
| 2.2 光学系统传递函数介绍 | 第31-33页 |
| 2.3 宽场成像相干传递函数介绍 | 第33-36页 |
| 2.4 宽场成像非相干光学传递函数介绍 | 第36-39页 |
| 2.5 典型样品宽场成像模型 | 第39-42页 |
| 2.5.1 轴向和横向无变化的厚物体 | 第39-41页 |
| 2.5.2 薄物体 | 第41-42页 |
| 2.6 传统宽场结构光照明三维显微成像特性分析 | 第42-46页 |
| 2.7 本章小结 | 第46-48页 |
| 第3章 基于中介层散射的宽场结构光照明三维显微成像特性分析 | 第48-76页 |
| 3.1 引言 | 第48页 |
| 3.2 传统结构光照明三维显微成像方法 | 第48-51页 |
| 3.3 曲面光学元件表面光学成像特性空域分析 | 第51-54页 |
| 3.4 曲面光学元件表面结构光照明显微成像频域分析 | 第54-66页 |
| 3.4.1 宽场成像照明光瞳与成像光瞳的几何关系 | 第54-59页 |
| 3.4.2 曲面光学元件表面样品成像时的有效光学传递函数 | 第59-66页 |
| 3.5 基于中介层散射的结构光照明三维显微成像方法 | 第66-74页 |
| 3.5.1 基于中介层散射的成像方法 | 第66-71页 |
| 3.5.2 荧光中介层对系统相干性的作用 | 第71-73页 |
| 3.5.3 荧光中介层厚度对成像结果的影响 | 第73-74页 |
| 3.6 本章小结 | 第74-76页 |
| 第4章 两步移相宽场结构光照明三维显微方法 | 第76-89页 |
| 4.1 引言 | 第76页 |
| 4.2 非移相宽场结构光照明三维显微方法 | 第76-83页 |
| 4.2.1 频域条纹解算方法 | 第77-79页 |
| 4.2.2 频谱成分传递特性分析 | 第79-82页 |
| 4.2.3 条纹解算方法仿真验证 | 第82-83页 |
| 4.3 两步移相宽场结构光照明三维显微方法 | 第83-88页 |
| 4.3.1 频域条纹解算方法 | 第83-85页 |
| 4.3.2 频谱成分传递特性分析 | 第85-87页 |
| 4.3.3 条纹解算方法仿真验证 | 第87-88页 |
| 4.4 本章小结 | 第88-89页 |
| 第5章 曲面光学元件表面的结构光照明显微成像实验 | 第89-103页 |
| 5.1 引言 | 第89页 |
| 5.2 实验系统 | 第89-94页 |
| 5.2.1 实验系统的构建 | 第89-91页 |
| 5.2.2 实验样品的制备 | 第91页 |
| 5.2.3 实验软件 | 第91-94页 |
| 5.3 曲面光学元件样品的成像实验 | 第94-102页 |
| 5.3.1 三步移相FSSIWM方法成像结果 | 第94-95页 |
| 5.3.2 非移相FSSIWM方法成像结果 | 第95-97页 |
| 5.3.3 两步移相FSSIWM方法成像结果 | 第97-99页 |
| 5.3.4 实验结果分析与讨论 | 第99-102页 |
| 5.4 本章小结 | 第102-103页 |
| 结论 | 第103-106页 |
| 参考文献 | 第106-119页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第119-122页 |
| 致谢 | 第122-124页 |
| 个人简历 | 第124页 |
