| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| ·课题研究背景 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-17页 |
| ·研究意义和思路介绍 | 第17页 |
| ·论文结构与工作安排 | 第17-19页 |
| 第二章 基于 IEEE 1394b 的 SerDes 介绍 | 第19-26页 |
| ·IEEE 1394b 协议介绍 | 第19-21页 |
| ·SerDes 高速收发器介绍 | 第21-23页 |
| ·基于 IEEE 1394b 的 SerDes 结构 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 SerDes 数字电路 RTL 设计 | 第26-51页 |
| ·8B/10B 编码器 | 第26-36页 |
| ·8B/10B 编码机制 | 第26-29页 |
| ·编码器模块划分 | 第29-33页 |
| ·编码器的功能仿真 | 第33-35页 |
| ·编码器的总结 | 第35-36页 |
| ·8B/10B 解码器 | 第36-40页 |
| ·解码器功能 | 第36页 |
| ·解码器模块划分 | 第36-38页 |
| ·解码器仿真验证 | 第38-39页 |
| ·8B/10B 编解码器联合仿真 | 第39-40页 |
| ·CDR 中的数字滤波器 | 第40-48页 |
| ·滤波器性能指标 | 第41-42页 |
| ·滤波器模块划分 | 第42-46页 |
| ·滤波器仿真验证 | 第46-48页 |
| ·comma 检测器 | 第48-50页 |
| ·功能介绍 | 第48页 |
| ·电路设计 | 第48-49页 |
| ·功能仿真验证 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 SerDes 芯片测试电路设计 | 第51-59页 |
| ·测试电路设计目的 | 第51页 |
| ·测试电路设计方案 | 第51-52页 |
| ·IIC Slave 控制器 | 第52-55页 |
| ·模块划分 | 第52-54页 |
| ·功能仿真 | 第54-55页 |
| ·内建自测试电路 | 第55-58页 |
| ·内建自测试原理 | 第55-56页 |
| ·测试电路模块划分 | 第56-58页 |
| ·功能仿真 | 第58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 SerDes 数字电路 ASIC 实现 | 第59-72页 |
| ·ASIC 设计流程 | 第59-61页 |
| ·逻辑综合 | 第61-63页 |
| ·静态时序分析和形式验证 | 第63-64页 |
| ·布局布线 | 第64-65页 |
| ·布线后仿真验证 | 第65-71页 |
| ·8B/10B 编解码器 | 第65-68页 |
| ·数字滤波器 | 第68-69页 |
| ·Comma 检测器 | 第69页 |
| ·IIC Slave 控制器 | 第69-70页 |
| ·内建自测试电路 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·总结 | 第72-73页 |
| ·展望 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 个人简历及攻读硕士学位期间的研究成果 | 第78-79页 |