基于边界扫描技术的故障检测及演示系统的研究与设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景及研究目的 | 第9-10页 |
| ·边界扫描技术的国内外发展及现状 | 第10-12页 |
| ·故障诊断技术的国内外发展及现状 | 第12页 |
| ·论文主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·本章小结 | 第13-14页 |
| 第2章 边界扫描测试技术的研究 | 第14-24页 |
| ·边界扫描的原理与结构 | 第14-16页 |
| ·边界扫描的TAP控制器 | 第16-18页 |
| ·边界扫描器件的互联方式 | 第18-20页 |
| ·串行连接方式 | 第18-19页 |
| ·并行连接方式 | 第19-20页 |
| ·独立连接方式 | 第20页 |
| ·边界扫描的测试方式 | 第20-23页 |
| ·外部测试方式 | 第20-22页 |
| ·内部测试方式 | 第22页 |
| ·互联测试方式 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 系统总体方案设计 | 第24-46页 |
| ·系统整体结构设计 | 第24-26页 |
| ·系统整体结构简述 | 第24页 |
| ·系统各个单元模块工作流程 | 第24-26页 |
| ·系统结构具体设计分析 | 第26-34页 |
| ·综合控制单元设计与实现 | 第26-28页 |
| ·综合处理单元设计分析 | 第28-29页 |
| ·温度检测单元设计分析 | 第29-32页 |
| ·综合显示单元设计分析 | 第32页 |
| ·系统故障触发装置设计分析 | 第32-34页 |
| ·系统各模块外观与接口设计 | 第34-40页 |
| ·综合控制单元外观与接口 | 第34-36页 |
| ·综合处理单元外观与接口设计 | 第36-38页 |
| ·温度监测单元外观与接口设计 | 第38-40页 |
| ·BIT设计 | 第40页 |
| ·故障扫描诊断原理 | 第40-45页 |
| ·IEEE1149.1标准故障扫描原理 | 第41-42页 |
| ·IEEE1149.4标准故障扫描原理 | 第42-44页 |
| ·IEEE1149.5标准故障扫描原理 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 系统设计具体实施方案 | 第46-64页 |
| ·系统所用主要元器件介绍 | 第46-53页 |
| ·控制类器件 | 第46-48页 |
| ·ARINC429通信类器件 | 第48-51页 |
| ·IEEE1149应用类器件 | 第51-52页 |
| ·A/D模块应用类器件 | 第52-53页 |
| ·系统主体模块具体实施方案 | 第53-61页 |
| ·系统控制核心模块 | 第53-56页 |
| ·系统BIT具体实施方案 | 第56-58页 |
| ·IEEE1149.1标准详细实施方案 | 第58-59页 |
| ·IEEE1149.4标准详细实施方案 | 第59-60页 |
| ·IEEE1149.5标准详细实施方案 | 第60-61页 |
| ·系统电源模块实施方案 | 第61-63页 |
| ·系统5V供电电路设计 | 第61-62页 |
| ·系统3.3V供电电路设计 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第5章 系统软件设计 | 第64-66页 |
| ·系统软件总体功能设计 | 第64-65页 |
| ·向量表总体框架设计 | 第65页 |
| ·相关文件解析 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第6章 系统故障模式模拟方案设计 | 第66-71页 |
| ·系统主控单元故障模式 | 第66-67页 |
| ·系统处理单元故障模式 | 第67-68页 |
| ·系统温度监测单元故障模式 | 第68-70页 |
| ·系统综合显示单元设计 | 第70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第7章 总结与展望 | 第71-73页 |
| ·论文工作总结 | 第71-72页 |
| ·今后工作展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
