Cobra芯片的系统级测试策略

摘要	第1-5页
Abstract	第5-9页
第1章 绪论	第9-14页
·课题背景	第9-10页
·可测性技术发展和现状	第10-12页
·本课题研究目的及意义	第12页
·主要研究内容	第12-14页
第2章 可测性设计方法和测试策略	第14-21页
·可测性设计方法分析	第14-19页
·全扫描设计方法	第14-16页
·边界扫描设计方法	第16-18页
·内建自测试方法	第18-19页
·Cobra测试策略	第19-20页
·本章小结	第20-21页
第3章 全扫描测试Cobra逻辑电路	第21-42页
·电路故障模型	第21-23页
·逻辑电路的可测性优化	第23-28页
·全扫描设计的实现	第28-41页
·扫描链的构造	第29-32页
·扫描链插入	第32-34页
·测试生成	第34-36页
·实现及结果分析	第36-41页
·本章小结	第41-42页
第4章 Cobra中嵌入存储器的测试	第42-62页
·静态存储器的特点	第42-46页
·结构特点	第42-43页
·故障模型特点	第43-46页
·存储器测试策略制定	第46-49页
·March算法	第49-52页
·有限状态机实现存储器测试	第52-57页
·算法选择	第52-54页
·FSM的构造	第54-57页
·仿真结果	第57-61页
·本章小结	第61-62页
结论	第62-63页
参考文献	第63-67页
致谢	第67页