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基于密度泛函的SiC异质结研究

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-13页
   ·SiC 材料的发展现状与结构特性第7-10页
     ·SiC 材料的发展现状第7-8页
     ·SiC 材料结构特性第8-10页
   ·SiC 异质结的研究现状第10-12页
   ·第一性原理在材料研究中的作用第12页
   ·本文的研究内容第12-13页
第二章 基于第一性原理的密度泛函介绍第13-21页
   ·Hohenberg-Kohn 理论第14-16页
   ·Kohn-Sham 方程第16-17页
   ·局域密度近似第17-18页
   ·广义梯度近似第18-21页
第三章 MS 软件及CASTEP 模块的介绍第21-27页
   ·Materials Studio 软件简介第21页
   ·CASTEP 模块介绍第21-22页
   ·CASTEP 的计算理论第22-25页
     ·平面波基组展开第22-23页
     ·赝势方法第23-25页
   ·总结第25-27页
第四章 6H-SiC 与3C-SiC 表面的研究第27-43页
   ·6H-SiC 表面结构特性的研究第27-35页
     ·6H-SiC 体结构分析第27-30页
     ·6H-SiC 的C 端面结构第30-35页
   ·3C-SiC 表面结构特性的研究第35-41页
     ·3C-SiC 体结构分析第35-38页
     ·3C-SiC 的Si 端面结构第38-41页
   ·本章总结第41-43页
第五章 3C-SiC/6H-SiC 异质结的构造与研究第43-55页
   ·3C-SiC/6H-SiC 异质结的建立第43-46页
   ·3C-SiC/6H-SiC 异质结的电子特性分析第46-50页
   ·3C-SiC/6H-SiC 异质结的带阶计算第50-54页
   ·本章总结第54-55页
第六章 结论与展望第55-57页
致谢第57-59页
参考文献第59-63页

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