数字电路的故障模型和故障压缩方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| ·测试概述 | 第12-15页 |
| ·SoC测试简介 | 第13-14页 |
| ·测试成本分析 | 第14-15页 |
| ·课题的背景和意义 | 第15-16页 |
| ·论文的组织 | 第16-17页 |
| 第二章 测试方法和可测性设计 | 第17-38页 |
| ·测试方法 | 第17-22页 |
| ·测试的对象 | 第17页 |
| ·测试的相关概念 | 第17-18页 |
| ·故障模型 | 第18-20页 |
| ·测试类型 | 第20-21页 |
| ·故障测试的质量评价 | 第21-22页 |
| ·故障模拟 | 第22-25页 |
| ·测试生成概述 | 第25-28页 |
| ·ATPG代数 | 第25-26页 |
| ·算法类型 | 第26-28页 |
| ·重要的组合 ATPG算法 | 第28-34页 |
| ·D算法 | 第29-31页 |
| ·PODEM算法 | 第31-33页 |
| ·FAN算法 | 第33页 |
| ·其他算法 | 第33-34页 |
| ·可测性设计 | 第34-36页 |
| ·可测性分析 | 第34-35页 |
| ·可测性结构化设计 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 故障压缩 | 第38-46页 |
| ·概述 | 第38页 |
| ·故障间的关系 | 第38-43页 |
| ·等价故障 | 第39-40页 |
| ·故障压缩比 | 第40-41页 |
| ·支配故障 | 第41-43页 |
| ·检测点理论 | 第43页 |
| ·扇出线处的支配关系 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 基于多故障模型的并发测试生成方法 | 第46-56页 |
| ·概述 | 第46页 |
| ·多故障模型原理 | 第46-51页 |
| ·固定型故障模型 | 第46-47页 |
| ·多重故障 | 第47-48页 |
| ·多故障模型 | 第48-50页 |
| ·运用多故障模型寻找并发故障 | 第50-51页 |
| ·并发测试生成 | 第51-53页 |
| ·实验结果 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| ·论文工作总结 | 第56页 |
| ·进一步研究的方向 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 研究生期间撰写的论文 | 第62页 |
