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新型光催化剂粉体和薄膜的制备及表征

摘要第1-4页
Abstract第4-10页
第1章 引言第10-29页
   ·TiO_2光催化剂的研究历史及现状第10-13页
   ·光催化的原理第13-16页
   ·光催化活性的影响因素第16-20页
     ·晶型的影响第16-17页
     ·晶粒大小的影响第17-18页
     ·表面结构的影响第18页
     ·能带位置对光催化性能的影响第18-20页
   ·TiO_2 光催化剂的改性第20-22页
     ·半导体表面贵金属的沉积第20页
     ·半导体的金属离子掺杂第20-21页
     ·复合半导体第21-22页
     ·半导体的光敏化第22页
     ·非金属离子掺杂第22页
   ·新型光催化剂的研究第22-23页
   ·薄膜光催化剂的研究第23-27页
     ·薄膜材料的制备技术第23-26页
     ·采用非晶态配合物前驱体用匀胶(Spin-coating)方法制备薄膜的优点第26-27页
   ·本研究工作的主要内容和工作第27-29页
第2章 实验药品、仪器及实验方法第29-40页
   ·实验药品第29页
   ·实验仪器第29-37页
     ·热重-差热分析仪(TGA-DTA)第29-30页
     ·透射电子显微镜和扫描电子显微镜第30-31页
     ·X 射线衍射(XRD)第31-32页
     ·红外光谱(IR)第32页
     ·拉曼光谱(Raman)第32-33页
     ·俄歇扫描电镜(AES)第33-34页
     ·比表面积测定仪 BET(Brunauer-Emmett-Teller)第34页
     ·光催化反应评价装置第34-37页
   ·制备方法简述第37-38页
     ·非晶态络合物法简述第37-38页
     ·原位聚合法简述第38页
   ·Ta_2O_5 薄膜的制备第38-40页
     ·Si 基底的清洗第38-39页
     ·Ta2O_5 溶胶的配制第39页
     ·薄膜的制备第39-40页
第3章 ZnWO4 纳米颗粒的合成及其光催化性能第40-53页
   ·实验部分第40-41页
     ·试剂与仪器第40页
     ·样品制备第40-41页
     ·光催化性能评价实验第41页
   ·结果与讨论第41-51页
     ·ZnWO_4 粉体生成过程第41-42页
     ·ZnWO_4 晶相的形成第42-44页
     ·ZnWO_4 晶体的形貌第44-46页
     ·ZnWO_4 的晶体结构第46-47页
     ·ZnWO_4 纳米颗粒的光催化性质第47-51页
   ·本章小结第51-53页
第4章 具有高活性宽响应的P25@PANI 合成及其光催化性能第53-63页
   ·实验部分第53-54页
     ·试剂与仪器第53页
     ·样品制备第53页
     ·光催化性能评价实验第53-54页
   ·结果与讨论第54-62页
     ·P25@ PANI 的制备第54-57页
     ·P25 和PANI 成键的证据第57-60页
     ·P25@ PANI 的光催化性质第60-62页
   ·本章小结第62-63页
第5章 利用溶胶凝胶法制备Ta_2O_5薄膜的界面结构和光催化活性.第63-81页
   ·实验部分第63-64页
     ·试剂与仪器第63页
     ·样品制备第63-64页
     ·光催化活性的测定第64页
     ·光化学性质的测定第64页
   ·结果与讨论第64-80页
     ·前驱体溶液浓度对薄膜形貌的影响第64-65页
     ·前驱体溶液浓度对薄膜厚度的影响第65-66页
     ·甩膜层数对薄膜形貌的影响第66-67页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的高分辨电镜图第67-68页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的XRD 图第68-69页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的界面扩散与界面反应第69-74页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的光谱性质第74-77页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的交流阻抗谱第77页
     ·Ta_2O_5/Si 薄膜的光催化活性第77-80页
   ·本章小结第80-81页
第6章 结论第81-82页
参考文献第82-87页
致谢第87-88页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果第88页

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