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基于蚂蚁算法的时序电路测试生成研究

摘要第1-7页
Abstract第7-9页
目录第9-12页
第一章 绪论第12-19页
   ·数字电路测试生成的发展第12-14页
   ·研究目标及意义第14-17页
   ·研究内容和结构安排第17-19页
第二章 基于模拟的自动测试生成第19-44页
   ·基于模拟的自动测试生成过程第19-20页
   ·故障模型第20-23页
     ·引言第20-21页
     ·故障模型第21-23页
   ·预处理技术第23-28页
     ·生成被测电路的目标故障表第23-24页
     ·可测性分析第24-28页
   ·故障模拟器第28-44页
     ·引言第29-30页
     ·HOPE的技术分析第30-36页
     ·HOPE的特点第36-43页
     ·小结第43-44页
第三章 基于蚂蚁算法的同步时序电路初始化研究第44-58页
   ·引言第44页
   ·蚂蚁算法的基本原理第44-48页
     ·蚂蚁算法的基本原理第44-46页
     ·规则定义第46-47页
     ·蚂蚁算法的实现步骤第47-48页
   ·时序电路初始化方法第48-51页
   ·基于蚂蚁算法的同步时序电路初始化第51-54页
     ·算法描述第51-52页
     ·规则定义第52-53页
     ·算法的实现步骤第53-54页
   ·实验结果第54-56页
   ·结论第56-58页
第四章 基于蚂蚁算法和遗传算法交叉的时序电路初始化第58-69页
   ·引言第58页
   ·遗传算法概述第58-64页
     ·遗传算法的发展过程第58页
     ·遗传算法的基本原理第58-62页
     ·GA的收敛性第62-63页
     ·遗传算法的特点第63-64页
   ·基于蚂蚁算法和遗传算法交叉的时序电路初始化第64-65页
     ·时序电路初始化算法描述第64页
     ·遗传算法的组成因子第64-65页
   ·实验结果第65-68页
   ·结论第68-69页
第五章 基于蚂蚁算法的时序电路测试矢量生成第69-84页
   ·引言第69页
   ·基于蚂蚁算法的时序电路测试矢量生成第69-79页
     ·算法描述第69页
     ·规则定义第69-71页
     ·算法实现框图第71-73页
     ·基于蚂蚁算法的ATPG实现过程第73页
     ·测试生成实例第73-79页
   ·实验结果第79-83页
   ·小结第83-84页
第六章 基于遗传算法的测试矢量动态压缩研究第84-91页
   ·引言第84页
   ·遗传算法在测试矢量动态压缩中的实现第84-89页
     ·基于蚂蚁算法和GA的测试矢量生成流程第85页
     ·遗传算法在测试矢量生成中的实现第85-87页
     ·算法的实现步骤第87-88页
     ·遗传算法的组成因子第88-89页
   ·实验结果第89-90页
   ·小结第90-91页
第七章 MCM互连测试中的神经网络模型研究第91-114页
   ·互连测试方法第91-92页
   ·互连故障模型第92-93页
   ·互连测试神经网络模型研究第93-108页
     ·符号定义第93页
     ·互连结点正常状态的神经网络模型第93-97页
     ·两互连结点固定型故障的神经网络模型第97-100页
     ·两个网络间桥接故障的神经网络模型第100-107页
     ·断路故障的神经网络模型第107-108页
   ·被测互连网络的神经网络模型第108-110页
     ·正常态的互连网络NN模型第108页
     ·故障态的互连网络NN模型第108-109页
     ·多扇出结构的互连网络NN模型第109-110页
   ·神经网络在互连测试中的应用途径和方法第110-113页
     ·神经网络用于互连故障的测试生成第110-112页
     ·神经网络用于互连测试的故障模拟第112-113页
   ·小结第113-114页
第八章 结束语第114-116页
参考文献第116-125页
致谢第125-126页
个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文第126-128页

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